专利摘要:

公开号:WO1991001684A1
申请号:PCT/JP1990/000984
申请日:1990-08-02
公开日:1991-02-21
发明作者:Hiroyuki Takeuchi;Tatsuo Nozokido;Kensuke Sekihara;Masao Kuroda;Hirotaka Takeshima;Chikako Nakamura
申请人:Hitachi Medical Corporation;Hitachi, Ltd.;
IPC主号:G01R33-00
专利说明:
[0001] 明 細 書 磁気共鳴ィ メ 一 ジ ン グ装置 に於け る 画像再構成方法 と そ の装置
[0002] [技術分野 ]
[0003] 本発明 は核磁気共鳴現象を用 い て被検体か ら 医学的 に 有効な断層像を得 る M R イ メ ー ジ イ ン グ装置 (以下 M R I 装置) に係 り 、 特に装置 に よ り 得 ら れた信号 に 含 ま れ る 歪みを補正 し 、 高分解能の画像を再構成す る 方法に関 す る 。
[0004] [背景技術 ]
[0005] M R I 装置では被検体か ら の信号を被検体各部の位置 に対応 さ せて分離 · 識別す る 必要があ る 。 そ の為の方法 の 1 つ に対象空間 に傾斜磁場を印加 し て被検体各部の位 置 に対応 し て磁場強度を異な らせ、 こ れに よ り 上記被検 体各部の共鳴周波数あ る い は位相推移量を異な ら せて位 置の情報を得 る 方法があ る 。 こ の方法は、 M R I の基本 原理であ り 、 例えば Proe. IEEE. 71. 338 ( 1988 ) , Proc. IEEE. 70. 1152 ( 1982 )な ど に詳細に述べ ら れてい る ので こ こ で は省略す る 。 M R I 装置は こ れ ら に端を発 し種々 の変形改良がな さ れてい る が、 原理的 に は前記傾斜磁場 の 印加手段 に よ っ てイ メ ー ジ ン グに必要な 位置情報を得 て い る 。
[0006] さ て、 こ の よ う な方法 に お い て は、 傾斜磁場を高速 に かつ精度良 ぐ 制御す る 必要があ る 。 代表的な例 と し て傾 斜磁場を発生 さ せ る た め に用 い る コ イ ルに数十ア ンペア の電流を 1 IB.S程度の立ち上 り 時間で流す必要があ り 、 得 られる 傾斜磁場の振幅やパルス幅は 1 0 _ 3オ ー ダの精度 が要求 される。
[0007] M R I 装置に は超電導、 常電導、 永久磁石の 3 タ イ プ が実用化 さ れてい る が、 い ずれの方式で も 傾斜磁場の精 度を阻害す る 要因 と し て、 渦電流効果があ る 。 超電導磁 石では真空容器が、 常電導磁石では コ イ ル 自 体あ る い は 冷却の為の容器が、 永久磁石で は均一度を良 く す る為の ポ ー ル ピー ス や磁石そ の も の な どが、 それぞれア ル ミ 二 ゥ ム 、 銅、 鉄な どの導電材料で構成 さ れ、 それが傾斜磁 場 コ イ ルの近 く に配置 さ れてお り 、 前記の早い磁束変化 に よ つ て渦電流が発生す る 。 渦電流に よ る 磁場 は本来の 傾斜磁場を打ち 消すよ う に発生 し 、 し か も時間経過 と と も に減少す る。 そ こ で従来装置では渦電流に よ り 減少す る 分を あ ら か じ め余分に電流を流 し 、 傾斜磁場 コ イ ルを ォ —バ ー ドラ イ ブす る こ と に よ り こ の 問題に対処 し て い た。
[0008] 傾斜磁場 コ イ ルは通常イ メ ー ジ ン グの為に X、 Y、 Ζ の 3 方向が必要であ る 。 そ し て前記のオ ーバー ドラ イ ブ 量は、 各 コ イ ルの.特性に応 じ てそ れぞれ独立に調整 さ れ る 。 例え ば第 1 図 ( a ) の様に台形の電流波形に対す る 傾斜磁場が ( b ) の応答を示す場合 は、 あ ら か じ めォ ー バ ー ド ラ イ ブ波形 ( c ) を加え る こ と に よ り ( d ) の如 き傾斜磁場波形を得 る よ う に調整す る 。 こ れを X、 Y、 Ζ につ い てそ れぞれ独立に行な う 。
[0009] 上記従来技術は傾斜磁場 コ ィ ル の流す電流 と 発生す る 渦電流 と の 間 に 直線関係が成 り 立つ こ と が前提 と な っ て い る 。 し か し 実際の M R I 装置で は非直線的な 関係で渦 電流が発生す る こ と があ り 、 そ の場合像がぼけ る と い う 問題を生ず る 。 非直線性の要因 と し て は、 強い静磁場 と 渦電流間の ロ ー レ ン ツ 力 に よ る 渦電流分布の変化や、 鉄 な ど磁性体の磁気飽和が考え ら れ る 。
[0010] 第 2 図 に通常用 い ら れ る フ ー リ エ イ メ ー ジ ン グ法の撮 像 シ ー ケ ン ス の 1 例を示す。 こ こ で R F は N M R 現象を 引 き 起 こ す照射パ ル ス 、 G ζ は所望の断面を選択す る た めの ス ラ イ ス傾斜磁場、 G Y は撮像化の為の位相 ェ ン コ 一 ド傾斜磁場、 G χ は撮像化の為の周波数ェ ン コ 一 ド傾 斜磁場、 F ( t ) は得 ら れ る 検出信号であ る 。 こ こ で実際 の計測で は G y の振幅を種々 に変え て第 2 図の シ ー ゲ ン ス を繰 り 返 し 実行す る 。 も し コ イ ル に流す電流 と 渦電流 の 間 に 直線関係が成 り 立てば、 得 ら れた デー タ は K 空間 ( フ ー リ エ面を波数で表現 し た空間) を第 3 図 の実線の 様に正方マ ト リ ク ス に分割 し た時、 そ の交点上 に並ぶ。 し力、 し前述 し た電流 に対す る 非直線があ る と 、 例え ば Y の傾斜磁場電流 I γ の振幅増加 に応 じ て渦電流が飽和方 向 に に 向かい、 前述 し たオ ーバー ド ラ イ ブが過剰 と な り 得 ら れ る デー タ A の K マ ッ プは、 y 方向 に非直線的 に 引 き 延ば さ れた形に な る 。 ま た X の傾斜磁場電流 I は シ 一ゲ ン ス の籙 り 返 し の 間同一の振幅で印加す る が、 第 2 図の区間 t a の 間 G Y と 共 に 印加 さ れる 。 こ の場合 Ι γ に よ る磁場が I χ で生ず る 渦電流に影響を及ぼ し 、 前記 と 同様な理由 に よ っ て等価的な G χ が增加 し 、 Κ „ 上の 座檫点が I γ の振幅に応 じ て X 方向 (時間 t の増加方向) に非直線的 に移動す る 。 第 4 図の点線は こ の よ う に し て 得 ら れた実際の K マ ッ プの歪みを模式的 に示 し た も ので あ る
[0011] さ て前述 し た従来技術は、 こ の様な渦電流の非直線性 に よ る K マ ッ プの歪み につ い て配慮 さ れてお ら ず、 そ の た め再構成 じ た画像に ぼけを生 じ画質劣下を起 こ し てい た。
[0012] [発明の開示 ] ,
[0013] 本発明 の 自 的 は、 こ の様な κ マ ッ プの歪み を補正す る こ と に よ り 商像上の ぼけを低減 し 、 高画質な M R I 装置 を提供す る こ と に あ る 。
[0014] 上記 目 的は、 以下の手段に よ り 達成 さ れ る 。
[0015] すなわ ち 、 第 3 図の点線で示 さ れた歪みを伴 っ た検出 信号 A ( t , I y ) を基に、 歪み の な い実線上の仮想デ 一 夕 F ( k % , k y ) に対応 し た歪み補正デー タ F '
[0016] ( k γ , k ν ) を補間演算に よ り 求め、 新た に得た歪み 補正デー タ F ' ( k Y , k v ) を フ ー リ エ変換す る こ と に よ り ぼけ の改善 さ れた再構成画像を得 る も のであ る 。
[0017] こ こ で上記補間演算を実施す る に は理想的 な座標点 ( k χ , k 、, ) と 計測 し て得 ら れ る 座標点 ( t , I y ) の関 が 1;知でな ければな ら な い o こ の 系を直接的に 推定す る 方法 と し て は格子状の フ ァ ン ト ム を実際に M R I 装置で計測 し 、 得 ら れた デ一 夕 の ピー ク 点の配列か ら こ の関係を求め る こ と 力《で き る o ま た
[0018] a
[0019] k y = a 0 + 1 2 • I 2
[0020] 1 y + a + ( 1 ) k x = t + b I + b 2
[0021] 0 + b 1 , - - 2 I y ώ +…… (2 ) な ど と 多項式近似 し、 ぼけが最 も少な く な る よ う な 係数 a n 、 b n 験的 に求め る 手
[0022] を実 法を用 い て も良い。 相互の座標の対応関係 は シ一エ ン スが決ま れば充分な 再現性力 あ る の で、 シ ー ケ ン ス に対応 し た歪みノヽ。 タ ー ン を あ ら か じ め用意 し てお き 、 計測テ一 夕 の取得後、 所望 の歪みパ タ ー ン の 回復処理を行な う 手法を用 い る 。
[0023] 発明 に よ れば、 M R I 装置か ら 得 ら れた計測信号に 含 ま れ る /]¾ OiCの非線形性に よ る 歪み を補正す る こ と 力《 で き 、 再構成画像に生 じ る ぼ け を改善 し た高品質な 画像 が得 ら れ る 。 [図面の簡単な説明 ]
[0024] 第 1 図 は電流波形 と 傾斜磁場の関係を示す図。
[0025] 第 2 図 は フ ー リ エ イ メ ー ジ ン グ法の撮像 シ ー ケ ン ス の 一実施例。
[0026] 第 3 図 は計測デー タ の 2 次元フ ー リ 工面上の歪み の説 明 図。
[0027] 第 4 図 は M R I 装置の プ ロ ッ ク 図。
[0028] ^3 図 は本発明 の一実施例 の フ ロ ー チ ヤ 一 ト
[0029] ^
[0030] O 図 は二次元補間の説明 図 第 7 図は二次元捕間 の フ ロ ー チ ヤ 一 ト で あ る 。
[0031] [発明を実施す る た め の最良の形態 ]
[0032] 以下、 本発明 の一実施例を図面を用 い て具体的 に説明 す る。
[0033] 第 4 図は、 本発明 の一実施例の M R I 装置の全体概略 構成を示す プ ロ ッ ク 図であ る。
[0034] 本実施例の M R I 装置は、 核磁気共鳴 ( N M R ) 現象 を利用 し て被検体の浙層画像を得 る も の であ り 、 第 4 図 に示すよ う に 、 静磁場発生磁石 1 0と 、 中央処理装置 ( C P U ) 1 1 と、 シ ー ケ ン サ 1 2 と 、 送信系 1 3 と 、 磁場勾配発生系 Ί 4 と 、 受信系 1 5 と 信号処理系 1 6と を備え て い る 。
[0035] 前記静磁場発生磁石 1 0は、 被検体 1 の周 り に そ の体 軸方向 ま た は体軸 と 直交す る方向 に強 く 均一な静磁場を 発生 さ せ る も の であ り 、 前記被検体 1 の周 り に あ る 広が り を も っ た空間 に、 永久磁石方式 ま た は常電導方式あ る い は超電導方式の磁場発生手段が配置 さ れてい る 。
[0036] 前記 シー ケ ンサ 1 2は、 C P U 1 1 の制御で動作 し 、 被検体 1 の断層画像の デー タ 収集に必要な種々 の命令を 送信系 1 3及び磁場勾配発生系 1 4並びに受信系 1 5に 送 る も ので あ る 。
[0037] 前記送信系 1 3 は、 高周波発振器 1 7 と 変調器 Ί 8 と 高周波増幅器 Ί 9 と送信側の高周波 コ イ ル 2 0 a と か ら 成 り 、 前記高周波発振器 1 7か ら 出力 さ れた高周波パル ス を シ ー ケ ン サ 1 2の命令 に従 っ て変調器 Ί 8で振幅変 調 し 、 こ の振幅変調 さ れた高周波パ ル ス を高周波増幅器
[0038] 1 9で增幅 し た後に被検体 1 に近接 し て配置 さ れた高周 波 コ イ ル 2 0 a に供給す る こ と に よ り 、 電磁波が前記被 検体 1 に照射 さ れ る よ う に な っ て い る 。
[0039] 前記磁場勾配発生系 1 4は、 X、 Y、 Ζ の三軸方向 に 巻かれた傾斜磁場 コ イ ル 2 1 と 、 そ れぞれの コ イ ルを駆 動す る 傾斜磁場電源 2 2 と か ら 成 り 、 前記 シ ー ケ ン サ 1 2か ら の命令 に従 っ て それぞれの コ ィ ルの傾斜磁場電源 2 2を駆動す る こ と に よ り 、 X、 Υ、 Ζ の三軸方向 の傾 斜磁場 G χ 、 G y 、 G ζ を被検体 1 に 印加す る よ う に な つ て い る 。 こ の傾斜磁場の加え方に よ り 、 被検体 1 に対 す る ス ラ イ ス面を設定す る こ と がで き る 。 前記受信系 1 5 は、 受信側の高周波 コ イ ル 2 0 b と 増幅器 2 3 と 直交 位相検波器 2 4 と A / D 変換器 2 5 と か ら成 り 、 前記送 信側の高周波 コ イ ル 2 0 a 力、 ら 照射 さ れた電磁波 に よ る 被検体 Ί の応答の電磁波 ( N M R 信号) は、 被検体 1 に 近接 し て配置 さ れた高周波 コ イ ル 2 0 bで検出 さ れ、 増 幅器 2 3及び直交位相検波器 2 4を介 し て A Z D 変換器 2 5 に入力 し てデ ジ タ ル量に変換 さ れ、 さ ら に 、 シ ー ケ ン サ 1 2力、 ら の命令に よ る タ イ ミ ン グで直交位相検波器 2 4に よ サ ン プ リ ン グ さ れた二系列の収集デー タ と さ れ、 そ の信号が信号処理系 1 6に送 ら れ る よ う に な っ て い る 。 こ の信号処理系 1 6は、 C P U 1 1 と 、 磁気デ ィ ス ク 2 6及び磁気テ ー プ 2 7等の記録装置 と 、 C R T 等 の デ ィ ス プ レ イ 2 8 と 力、 ら成 り 、 前記 C P U 1 1 で フ ー リ エ変換、 補正係数計算像再構成等の処理を行い、 任意 断面の信号強度分布あ る い は複数の信号に適当 な演算を 行 っ て得 ら れた分布を画像化 し てデ ィ ス プ レ イ 2 8 に表 示す る よ う にな っ て い る 。
[0040] な お、 第 4 図におい て、 送信側の高周波 コ イ ル 2 0 a 受信側の高周波 コ イ ル 2 0 b 及び傾斜磁場 コ イ ル 2 1 は 被検体 Ί の周 り の空間に配置 さ れた静磁場発生磁石 1 0 の磁場空間内 に配置 さ れてい る 。
[0041] 次に こ の様な装置 に よ っ て得た前記の歪み の あ る 計測 デー タ の補正方法の一実施例を第 5 図を用 いて説明す る こ こ で計測デ 夕 の歪みの典型的な 例 と し て、 歪み の 誤差量が 2 次関数に従 っ て增加す る 場合を想定す る 。 す な わ ち前述 し た ( 1 ) 、 ( 2 ) 式力《
[0042] K + a y 2 … (
[0043] χ = t + b - I y 2 … (4 ) と表現で き る場合であ り 、 便宜上 a 及び b は既知 と す る ま た K v 、 ; v 、 t 、 I v は正規化 さ れた デ ィ ジ タ ルの 値で一 1 2 8〜 1 2 7 ま での整数 と す る 。
[0044] ス テ ッ プ 1 0 1 : 計測 し た デー タ A ( t , I v ) を メ モ リ に入力す る 。
[0045] ス テ ッ プ 1 0 2 : X 方向 の正 し い位置 Κ χ を歪んだ位 匿 t に よ り 表わ し た ( 4 ) 式を t に つ い て解 き 、 そ の整 数部を L 、 小数部を m と す る 。
[0046] ス テ ツ .,プ: 1 0 3 : ス テ ッ プ 1 0 2 で求め た t の値 は小 数点以下の を持つが、 歪んだデー タ の計測点 t は整数 な の で対応す る 計測デー タ は存在 し な い。 そ こ で対応点 に最 も 近い計測デー タ A ( L , I y ) 、 A ( L + l ,
[0047] I y ) と mの値を用 い た補間演算に よ っ て x 方向の歪み を捕正 し た Β ( Κ χ , I y ) を求め る 。
[0048] こ の ス テ ッ プ 1 0 2及び 1 0 3 の演算を I v 及び Κ γ の そ れぞれにつ い て 一 1 2 8 〜 1 2 7 ま で繰 り 返 し 、 X 方向の歪みを補正 し た 2 次元上の全デー タ Β ( Κ„ , I y ) を得 る 。 こ の段階で は y 方向の歪み は残 っ て い る 。 ス テ ッ プ 1 0 4 : y 方向 の正 し い位置 K を歪んだ位 置 I y に よ り 表わ し た ( 3 ) 式を I y につ い て解 き 、 そ の整数部を N、 小数部を p と す る 。
[0049] ス テ ッ プ 1 0 5 : ス テ ッ プ 1 0 3 と 同様に ス テ ッ プ 1 〇 4 で算出 し た N と p を用 い て対応点に最 も 近い前記の 補間デー タ B ( Κ、, , Ν ) 、 Β ( Κ χ , Ν + 1 ) に よ り y 方向の歪み補正デー タ F ' ( K x , K y ) を 寻 る 。
[0050] こ の ス テ ッ プ 1 0 5 を Κ χ に つ い て 一 1 2 8 〜 1 2 7 ま で実行 し 、 さ ら に ス テ ッ プ 1 0 4 を も 含め た演算を I y に つ い て 一 1 2 8 〜 1 2 7 ま で実行す る こ と に よ り 、 2 次元上の最終的な全歪み補正デー タ F ' ( Κ χ , K y ) を得 る 。
[0051] ス テ ッ プ 1 0 6 : 得 ら れた F ' ( Κ χ , K y ) は歪み の な い正方マ ト リ ク ス上の デー タ に変換 さ れてお り 、 こ の F ' ( K x , K y ) を 2 次元フ ー リ エ変換す る こ と に よ り ボケ の改善 さ れた画像 C ( I , J ) を得 る 。
[0052] 本補間方法 は 2 次元デー タ を 2 方向 の一次元配列 デー 夕 の捕間に よ り 実施 し て い る ので効率が良い。 ま た説明 を容易 にす る た め に リ ニア捕間を用 い たが、 最小二乗法 ゃ ス プラ イ ン補間な ど、 よ り 高次の補間方式を用 いれば i FH に よ る 誤差を低減で き る 。 こ れ ら は一般的 に知 ら れ た手法で あ る の で説明 は省略す る 。 本一実施例の よ う に —次元の補 ¾を組み合わせ る 手法を用 いず直接 2 次元の 補間法を用 い て も 良い。
[0053] 第 6 図 は第 3 図の部分拡大図であ り 、 二次元補間法の —実施例 と し て 4 点で補間す る 例を示す。 第 7 図 は そ の フ ロ ー チ ヤ 一 ト であ り 次の ス テ ッ プに よ り 二次元補間を 行 う 。
[0054] ス テ ッ プ 2 0 1 : 歪みの無い正方マ ト リ ク ス上の一点 P と 、 補間 に い る そ の周 囲 に あ る 実際の計測位置 A 1 A 2、 A 3 、 A 4 を決め る 。
[0055] ス テ ッ プ 2 0 2 : 点 P と 選択 し た計測点の う ち の任意 の 一点 A 1 と の距離を座標軸 Κ χy に平行な距離 x l 、 y l と で表す。
[0056] ス テ ッ プ 2 0 3 : x l 、 y l の関数 と し て表 さ れ る ゥ エ イ ト w l 、 w 2、 w 3 、 w 4 を決め る 。
[0057] こ こ で ウ ェ イ 卜 の総和 は 1 で あ る 。
[0058] ス テ ッ プ 2 0 4 : ウ ェ イ ト w l 、 w 2、 w 3、 w 4 と 点 A l 、 A 2、 A 3、 A 4 上の各値 と の積和演算を行い 補間結果 し点 P 上の値を求め る 。
[0059] ス テ ツ、プ 2 0 5 : 歪みの無い正方マ ト リ ク ス上全ての 点 に つ い て上記ス テ ッ プ 2 0 1 一 2 0 4 を実行す る 。 ス テ ッ プ 2 0 : 補間 に よ っ て得 ら れた歪みの無い正 方マ ト リ ク ス上全ての点につ い ての仮想デー タ を フ ー リ ェ変換 し て画像デー タ を求め る 。 二次元補間 に用 い る 計測デー タ は何点で も よ く 、 そ の 場合で も 同様な方法で実行で き る 。
[0060] 歪み誤差のパラ メ ー タ a 、 b は既知 と し たが前述 し た よ う に a 、 b を可変 し て ボケ の改善が最良 と な る 値を あ ら か じ め求めてお き 、 実際の計測時に そ の 値を用 い る の が実用 的であ る 。
[0061] 本実施例で は ( 3 ) 、 ( 4 ) 式で 2 次の誤差の み と 定 義 し たが、 前述 し た ( 1 ) 、 ( 2 ) 式の よ う に多項式近 似 し た も の で も 、 第 5 図 の ス テ ッ プ 1 0 2 、 1 0 4 の t 及び I
[0062] y の式を変更す る の みで実施で き る こ と は容易 に 推察 さ れよ つ o
[0063] ま た ¾算時間を短縮す る 為 に、 ス テ ッ プ 1 0 2 と 1 〇 4 の L 、 m 、 N 、 p を テー ブル化 し て あ ら 力、 じ め準備 し てお き 、 実質的 に補間溃算の み を実行す る 手法を用 い る こ と も で き る o
[0064] M R I の計測 シ ー ケ ン ス は種 々 の手法力くあ り 、 そ の手 法 ご と に渦電流の影響が異な る 場合があ る 。 そ こ でそ の
[0065] .に —
[0066] 手法 ご と に m §己 a 、 b あ る い は L 、 n 、 N 、 p をテ ー プ ル化 し て お く の も 実際的 な方法であ る 。
[0067] 本実施例で は X 方向、 y 方向 の両方向 の歪み に つ い て 正を行な つ たが、 ど ち ら か一方の み を補正す る 手法で も ボケ の改 効果カ あ る 。 便宜上、 計測デー タ を 2 5 6 X 2 5 6 マ ト リ ク スで説 明 し たが、 他の任意の マ ト リ ク ス で も適用で き る 。
[0068] ま た本実施例 は 2 次元デー タ につ い て の歪み補間を対 象 と し たが、 3次元の計測デー タ に対 し て も 適用で き る こ と は容易 に類推で き る 。
权利要求:
Claims1 8 請 求 の 範 囲
1 . a ) 傾斜磁場を印加 し て被検体か ら の磁気共鳴 信号を計測す る ス テ ッ プ ;
b ) 前記計測で得 ら れた計測デー タ の フ ー リ 工面上の計 測位置 と デー タ 値 に関 し 、 実際の計測位置 に対応 し た フ 一 リ エ面上の歪み の あ る 正方マ ト リ タ ス の位置 と そ の位 置 に於け る 前記デー タ 値を、 フ ー リ エ面上の歪みの無い 正方マ ト リ ク ス の位置 に於け る 仮想デー タ 値に補正す る ス テ ッ プ ; a n d
c ) 前記仮想デー タ を フ ー リ エ変換 し て画像 デー タ を求 め る ス テ ッ プ と を含む磁気共鳴イ メ ー ジ ン グ装置 に於け る 画像再構成方法。
2 . 請求項 1 の前記補正す る ス テ ッ プは
一次元配列デー タ の補間処理に よ り 前記仮想デー 夕 を 求める ス テ ッ プを含む。
3 . 請求項 2 の前記補正す る ス テ ッ プ は
フ ー リ エ面上の歪み の無い正方マ ト リ タ ス の X 方向 の 位置 ,, を前記計測デー タ の実際の X 方向 の計測位置 に よ り 表すス テ ッ プ ;
前記位置 Κ χ 上の前記仮想デー タ を近傍の前記計測デ 一 タ カ、 ら袖間 に よ り 求め る ス テ ッ プ ;
フ ー リ エ面上の歪みの無い正方マ ト リ ク ス の y 方向の 位置 K y を前記計測デー タ の実際の y 方向 の計測位置 に よ り 表すス テ ッ プ ; a n d 前記位置 K 上の前記仮想デー タ を近傍の前記計測デ — タ か ら 補間に よ り 求め る ス テ ッ プ と を含む。
4 . 請求項 2 の前記補正す る ス テ ッ プは
二次元配列デー タ の捕間処理に よ り 前記仮想デー タ を 求め る ス テ ッ プを含む。
5 . 請求项 4 の前記捕正す る ス テ ッ プ は
フ ー リ エ面上の歪みの無い正方マ ト リ ク ス の x 、 y 方 向 の位置 Κ γ 、 Κ ν を前記計測デー タ の実際の x 、 y 方 向 の計測位置 に よ り 表すス テ ッ プ ; a n d
前記位置 ¾L Xy 上の前記仮想デー タ を近傍の前記 計測デー タ か ら 2 次元補間 に よ り 求め る ス テ ッ プ と を含 む。
6 . a ) 傾斜磁場を フ ァ ン ト 一ム に 印加 し て前記 フ ァ ン ト ー ム か ら の磁気共鳴信号を計測す る ス テ ッ プ ; ) 計測デー タ の フ ー リ 工面上の計測位置 と 値 と に関 し 理想的な前記計測位置 に対応 し た フ ー リ 工面上の歪み の 無い正方マ ト リ ク ス の位置 と 、 実際の計測位置 に対応 し た歪みの あ る 正方マ ト リ ク ス の位置 と の関係を前 も っ て 求め、 歪み補正係数をテー ブル化す る ス テ ッ プ ; c ) 傾斜磁場を印加 し て被検体か ら の磁気共鳴信号を計 測す る ス テ ッ プ ;
d ) 計測デー タ の実際の計測位置 に対応 し た フ ー リ エ面 上の歪み の あ る 正方マ ト リ ク ス を前記テ ー ブル化 さ れた 前記歪み補正係数を用 い て補正 し 、 前記歪みの無い正方 マ ト リ ク ス上の仮想デー タ を求め る ス テ ッ プ e ) 前記仮想デー タ を フ ー リ エ変換 し て画像デー タ を求 め る ス テ ッ プ
と を含む磁気共鳴 ィ メ 一 ジ ン グ装置 に於 け る 画像再構成 方法。
7 . a ) R F パルス と 傾斜磁場を被検体 に 印加す る 手段 ;
b ) 前記被検体か ら の磁気共鳴信号を計測す る 手段 ; c ) 前記計測に よ っ て得 ら れた計測デー タ を フ ー リ エ面 上 に於い て、 実際の計測位置に対応 し た第 1 の正方マ ト リ ク ス の位置 と そ の位置 に於け る デー タ 値 と し て記憶す る 手段 ;
d ) フ ー リ エ面上に於い て、 理想的な計測位置 に対応 し た第 2 の正方マ ト リ ク ス の位置を記憶 し てお く 手段 ; e ) 前記第 1 の正方マ ト リ ク ス の位置 と 前記第 2 の正方 マ ト リ ク ス の位置 と を比較す る 手段 ;
f ) 前記比較の結果に基づ き 、 前記第 1 の正方マ ト リ ク ス の位置 と そ の位置の デー タ 値 と か ら 、 前記第 2 の正方 マ ト リ ク ス の位置 に於 け る 仮想デー タ を求め る 手段 ; ( ) 前記仮想デー タ を フ ー リ エ変換 し て画像デー タ を求 め る 手段
と を含む磁気共鳴 イ メ ー ジ ン グ装置。
8 . 請求項 7 の前記仮想デー タ を求め る 手段 は —次元配列デー タ の補間処理 に よ り 前記仮想デー タ を 求め る 手段を含む。
9 . 請求項 8 の前記仮想デー タ を求 め る 手段 は - ' --1/01684 PCT/JP90/00984
16 フ ー リ エ面上の前記第 2 の正方マ ト リ ク ス の X 方向の 位置 Κ χ を前記計測デー タ の実際の X 方向 の計測位置 に よ り 表す手段 ;
前記位置 Κ χ 上の前記仮想デー タ を近傍の前記計測デ — タ カ、 ら補間に よ り 求め る 手段 ;
フ ー リ エ面上の前記第 2 の正方マ ト リ タ ス の y 方向の 位置 K y を前記計測デー タ の実際の y 方向 の計測位置 に よ り 表す手段 ; and
前記位置 K y 上の前記仮想デー タ を近傍の前記計測デ 一 タ カ、 ら 捕間 に よ り 求め る 手段 と を含む。
10. 請求項 7 の前記仮想デー タ を求め る 手段は 二次元配列デ ^ タ ©補間処理に よ り 前記仮想デー タ を 求め る 手段を含む。
11. 請求項 1 0 の前記仮想デー タ を求め る 手段は フ ー リ エ面上の前記第 2 の正方マ ト リ ク ス の x、 y 方 向 の位置 Κ γ 、 Κ ν を前記計測デー タ の実際の x 、 y 方 向の計測位置に よ り 表す手段 ; and
前記位置. Κ χ 、 K y 上の前記仮想デー タ を近傍の前記 計測デー タ か ら 2 次元補間 に よ り 求め る 手段 と を含む。
12. a ) R F パルス と 傾斜磁場を被検体に 印加す る 手段 ;
b ) 前記被検体か ら の磁気共鳴信号を計測す る 手段 ; c ) フ ー リ ^面上の計測デー タ の計測位置 と 値 と に関 し 理想的.な計測位置に対応 し た フ ー リ 工面上の歪み の無い 正方マ ト リ ク ス の位置 と 、 実際の計測位置 に対応 し た歪 みの あ る.正方マ ト リ ク ス の 位置 と の関係を格子状フ ァ ン ト ー ム か ら の磁気共鳴信号を計測す る こ と に よ り 前 も つ て求め、 歪み補正係数を記憶 し てお く 手段 ;
d ) 前記被検体か ら の計測デー タ に よ り 得 ら れ る フ ー リ 工面上の正方マ ト リ ク ス の歪み を前記歪み補正係数を用 い て補正 し 、 前記歪みの無い正方マ ト リ ク ス上の仮想デ — 夕 を求め る 手段 ; a n d
e ) 前記仮想デー タ を フ ー リ エ変換 し て画像デー タ を求 め る 手段
と を含む磁気共鳴イ メ ー ジ ン グ装置。
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同族专利:
公开号 | 公开日
JPH0649034B2|1994-06-29|
JPH0366360A|1991-03-22|
引用文献:
公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
法律状态:
1991-02-21| AK| Designated states|Kind code of ref document: A1 Designated state(s): DE US |
1991-08-29| RET| De translation (de og part 6b)|Ref document number: 4091345 Country of ref document: DE Date of ref document: 19910829 |
1991-08-29| WWE| Wipo information: entry into national phase|Ref document number: 4091345 Country of ref document: DE |
优先权:
申请号 | 申请日 | 专利标题
JP1/201183||1989-08-04||
JP1201183A|JPH0649034B2|1989-08-04|1989-08-04|磁気共鳴イメージング装置における画像再構成方法|DE19904091345| DE4091345T1|1989-08-04|1990-08-02|Verfahren und vorrichtung zur bildrekonstruktion in einem abbildungsgeraet mit magnetischer resonanz|
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