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    • 专利摘要:

    公开号:WO1985000712A1
    申请号:PCT/EP1984/000231
    申请日:1984-07-26
    公开日:1985-02-14
    发明作者:Heinz Kammerer
    申请人:Gebhard Balluff Fabrik Feinmechanischer Erzeugniss；
    IPC主号:H03K17-00
    专利说明:
    [0001] Selbstprüfender NäherungsSchalter
    [0002] Die Erfindung betrifft einen selbstprüfenden Näherungs¬ schalter mit einem Oszillator, mit einem Demodulator, mit einer Triggerstufe, mit einer getakteten Prüfim¬ pulsquelle, welche Pr.üfimpulse, deren positive und deren negative Amplitude ausreichend hoch ist, um un¬ abhängig vom Schaltzustand der Triggerstufe jeweils für die Dauer eines Einzelimpulses ein Kippen derselben in den jeweils anderen Schaltzustand derselben herbei¬ zuführen, an den Oszillator zum Simulieren einer Ent- oder Bed mpfung desselben anlegt, und mit einer auf die in Abhängigkeit von den Prüfimpulsen auftretenden Pegeländerungen des Ausgangssignals der Triggerstufe ansprechenden, der Erzeugung eines Prüfausgangssignals dienenden PrüfSchaltung.'
    [0003] Ein selbstprüfender Näherungschalter ist bereits aus der EP .OS 0 035 225 bekannt. Bei dem bekannten Nähe¬ rungsschalter begnügt man sich damit, die einwandfreie Funktion des Näherungsschalters dadurch zu überprüfen, daß man bei entdämpftem bzw. frei schwingendem Oszil¬ lator überprüft, ob sich der Oszillator mit Hilfe ei¬ nes Prüfimpulses bedampfen lässt bzw. ob sich die Schwingungsamplitude des Oszillators durch das Anlegen eines Prüfimpulses in ähnlicher Weise gegebenenfalls bis auf Null verringern lässt, wie bei der Annäherung eines zu erfassenden Elementes an die aktive Fläche des Näherungsschalters. Diese Art der Funktionsprüfung verhindert im Prinzip die Erkennung von Fehlern, die dazu führen, daß das AusgangsSignal des Näherungsschalters einen bedämpften Zustand des Oszillators anzeigt, obwohl der Oszillator in Wirklichkeit nicht durch ein an die aktive Fläche des Näherungssehalters ausreichend weit herangeführtes Element bedämpft wird. Dieser Nachteil wird bei dem NäherungsSchalter gemäß der DE-OS 30 07 929 überwunden, wo zusätzlich die Möglichkeit besteht, den Oszillator zu Prüfzwecken zu entdämpfen. Bei den bekannten Nähe¬ rungsschaltern werden jeweils die internen Betriebs¬ parameter des Oszillators beeinflusst, um durch diese interne Beeinflussung eine Änderung der Oszillator¬ schwingung zu bewirken, die einer bestimmten Lageände¬ rung eines den Schwingkreis von außen beeinflussenden Elements, z.B. eines Schaltnockens, entspricht, In diesem Sinne wird eine externe Be- oder Entdämpfung durch interne Beeinflussung der internen Betriebs¬ parameter simuliert, .wobei stets mit sogenannten Ab¬ reißoszillatoren gearbeitet wird, bei denen die Schwingung bei externer oder interner Bedämpfung ab¬ reißt.
    [0004] Ausgehend vom Stand der Technik liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, unabhängig vom Schwingungszu¬ stand des Oszillators, d.h. sowohl bei bedampftem als auch bei entdämpftem Oszillator, eine Funktionsprüfung des Näherungsschalters ohne eine Beeinflussung der in¬ ternen Betriebsparameter des Oszillators durchführen zu können.
    [0005] Diese Aufgabe wird bei einem selbstprüfenden Näherungs¬ schalter der eingangs angegebenen Art gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß der Oszillator als ana¬ log arbeitender Oszillator mit einer in Abhängigkeit von einer Bedä pfung stetig veränderbaren Schwingungs¬ amplitude ausgebildet ist und daß die Prüfimpulse der Prüfimpulsquelle in Form bipolarer Doppelimpulse an einen Anschluß des Oszillators anlegbar sind, an dem sie der Speisespannung und/oder dem Speisestrom des Oszillators überlagerbar sind.
    [0006] Die Erfindung basiert auf dem Grundgedanken, daß es mit Hilfe von Prüfimpulsen in Form von bipolaren Dop¬ pelimpulsen an einem Speisespannungsanschluß des Os¬ zillators möglich ist, je nach dem Schwingungszustand des Oszillators und dem entsprechenden Schaltzustand der Triggerstufe entweder mit dem positiven Einzelim¬ puls oder mit dem negativen Einzelimpuls des Doppel¬ impulses eine signifikante Änderung der Amplitude der Oszillatorschwingung herbeizuführen und so auf jeden Fall am Ausgang der Triggerstufe einen Signalwechsel zu bewirken. Diese Signalwechsel am Ausgang der Trig¬ gerstufe werden dann mit Hilfe einer Prüfschaltung ausgewertet, die folglich nur dann ein Ausgangssignal erzeugt, welches eine einwandfreie Funktion des Nähe¬ rungsschalters anzeigt, wenn die Prüfimpulse tatsäch¬ lich Signalwechsel am Ausgang der Triggerstufe herbei¬ führen. Dieses Arbeitsprinzip bringt den wesentlichen Vorteil mit sich, daß die Funktion des Näherungsschal¬ ters kontinuierlich und unabhängig davon überprüft werden kann, ob der Schwingkreis gerade bedämpft ist oder nicht. Dabei treten die Amplitudenänderungen in Abhängigkeit von den Prüfimpulsen sehr schnell ein, so daß mit kürzeren Prüfimpulsen gearbeitet werden kann als bei Abreißoszillatoren, wo insbesondere das Wiederanschwingen nach einer Bedämpfung eine erhebliche Zeit beansprucht.
    [0007] Außerdem ist es möglich, die Amplitude der Prüfimpulse sehr exakt an die Amplitudenänderung der Oszillator¬ schwingung in dem kritischen Bereich anzupassen, so daß eine Störung bereits dann festgestellt und ange¬ zeigt werden kann, wenn die Betriebsparameter der Schaltkreise des NäherungsSchalters außerhalb eines vorgegebenen Toleranzbereichs liegen.
    [0008] Als günstig hat es sich auch erwiesen, wenn die Prüf- schaltung des erfindungsgemäßen Näherungsschalters als aktive Verstärkerschaltung ausgebildet ist, da in diesem Fall auch Fehler in der PrüfSchaltung selbst sofort erkannt werden können. Als bevorzugte aktive Verstärkerschaltung hat sich dabei die sogenannte Stromquellenschaltung erwiesen.
    [0009] Weiterhin hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn die PrüfSchaltung selbst induktiv an den Ausgang der Triggerstufe angekoppelt ist, wodurch verhindert wird", daß beispielsweise bei einer Störung in der Trigger¬ schaltung ein Dauersignal an die PrüfSchaltung gelangt, welches an deren Ausgang eine einwandfreie Funktion des NäherungsSchalters vortäuscht.
    [0010] In entsprechender Weise hat es sich auch als günstig erwiesen, wenn die Prüfimpulsquelle induktiv oder kapazitiv an den Eingang des Oszillators angekoppelt ist, um auch hier die Übertragung von DauerSignalen zu verhindern, die aufgrund einer Funktionsstörung, wie z.B. eines Kurzschlusses oder einer Unterbrechung auftreten können.
    [0011] Erf ndungsgemäß wird die Dauer der Prüfimpulse vor¬ zugsweise so gewählt, daß sie kürzer ist als die An¬ sprechzeit der von den Ausgangssignalen des Näherungs¬ schalters gesteuerten Schalteinrichtungen, so daß am Signalausgang des NäherungsSchal ers keine durch die Prü Impulse bewirkten SignalWechsel wirksam werden. Vorzugsweise kann die Dauer der Prüfimpulse kleiner als 0,5 ms sein, was bei Verwendung von Relais als Schalteinrichtungen kurz genug ist, um ein Ansprechen der Relais zu verhindern. Gegebenenfalls kann aber auch mit längeren Prüfimpulsen gearbeitet werden, de¬ ren Wirksamkeit am Ausgang durch entsprechende Zeit¬ glieder unterdrückt wird.
    [0012] Als günstig hat sich bezüglich der PrüfImpulse ferner eine Impulsfolgefrequenz von etwa 200 Hz erwiesen, da eine entsprechende Impulsfolge am Ausgang der Trigger¬ stufe mittels einer technisch einfach zu realisierenden PrüfSchaltung erfasst werden kann, an deren Eingang ein Kondensator liegt.
    [0013] Besonders vorteilhaft ist es, wenn die Amplitude der positiven und der negativen Einzelimpulse der Prüfim¬ pulse derart gewählt ist, daß bei jedem Arbeitspunkt der Triggerstufe die von diesem Arbeitspunkt jeweils weiter entfernte Schaltschwelle gerade noch über¬ schreitbar ist. Aufgrund dieser Ausgestaltung ist es nämlich möglich, allmähliche Änderungen der Betriebs¬ parameter des Oszillators und/oder der Triggerstufe, die zu außerhalb eines vorgegebenen Toleranzbereiches liegenden Signalen führen, frühzeitig zu erfassen. Besonders günstig ist es dabei, wenn die positive und die negative Amplitude der Einzelimpulse der Prüfim- pulse exakt der Amplitudenänderung bei Bedämpfung des Oszillators durch einen dem NäherungsSchalter zuge¬ ordneten Schaltnocken entspricht, da in diesem Fall die Möglichkeit besteht, anhand des AusgangsSignals der PrüfSchaltung gleichzeitig zu überprüfen, ob der vorgegebene Ansprechabstand des Näherungsschalters noch eingehalten wird oder nicht.
    [0014] Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung werden nachstehend anhand von Zeichnungen noch näher erläu¬ tert. Es zeigen:
    [0015] Fig. 1 ein Blockschaltbild mit den wesent. liehen Baugruppen eines selbstprüfen¬ den NäherungsSchalters gemäß der Er¬ findung;
    [0016] Fig. 2 ein detaillierteres Schaltbild eines selbstprüfenden NäherungsSchalters gemäß der Erfindung und
    [0017] Fig. 3 ein Diagramm zur Erläuterung der Ar¬ beitsweise eines erfindungsgemäßen Näherungsschalters.
    [0018] Im einzelnen zeigt Fig. 1 einen Oszillator 10, dessen Ausgang mit einem Demodulator 12 verbunden ist, an des¬ sen Ausgang eine Triggerstufe 14 angeschlossen ist. Diese drei Schaltkreise 10, 12, 14 bilden die üblichen Schaltkreise eines Näherungsschalters und werden nor¬ malerweise noch durch einen Verstärker am Ausgang der Triggerstufe 14 ergänzt, um am Ausgang A des Näherungs¬ schalters ein Signal zu erhalten, dessen Leistung aus¬ reicht, um beispielsweise Relais unmittelbar zu betäti¬ gen.
    [0019] Gemäß der Erfindung ist zusätzlich eine Prüfimpuls¬ quelle 16 vorgesehen, die mit dem Oszillator 10 ver¬ bunden ist. Außerdem ist eine PrüfSchaltung 18 vorge¬ sehen, welche an den Ausgang der Triggerstufe 14 ange¬ schlossen ist und als Ausgang einen Prüfausgang P auf¬ weist, dessen Signalpegel anzeigt, ob der Näherungs¬ schalter einwandfrei arbeitet oder nicht.
    [0020] Bei dem NäherungsSchalter gemäß Fig. 1 werden der Speisespannung bzw. dem Speisestrom des Oszillators 10 aus der Prüfimpulsquelle 16 stammende Prüfimpulse überlagert, die als bipolare Doppelimpulse ausgebil¬ det sind, derart, daß von den beiden Einzelimpulsen jedes Prüfimpulses der Einzelimpuls der einen Pola¬ rität ein Absinken der Amplitude der Oszillator¬ schwingung bewirkt, während der andere Einzelimpuls eine Erhöhung der Amplitude der Oszillätorschwingung bewirkt. Das Ausgangssignal des Oszillators wird in dem Demodulator 12 demoduliert bzw. gleichgerichtet und an den Eingang der Triggerstufe 14 angelegt, deren Schaltschwellen so gewählt sind, daß ihr Aus¬ gangssignal, solange am Oszillator kein Prüfimpuls anliegt, bei bedampftem
    [0021] OMPI Oszillator einen ersten Pegel und bei entdämpftem Os¬ zillator einen zweiten Pegel besitzt. Diese Signal¬ pegel stehen - gegebenenfalls nach einer Verstärkung - am Ausgang A des Näherungsschalters zur Verfügung, um nachgeschaltete Schalteinrichtungen, insbesondere Relais-Schalteinrichtungen in üblicher Weise zu betä¬ tigen.
    [0022] Durch die von der Prüfimpulsquelle 16 gelieferten Prüf¬ impulse wird erfindungsgemäß erreicht, daß das Ausgangs- Signal des Oszillators derart verändert wird, daß die Triggerstufe bei jedem Prüfimpuls ihren Schaltzustand unabhängig davon ändert, welchen ihrer beiden Schalt¬ zustände sie aufgrund der tatsächlichen Bedämpfung oder Ξntdämpfung zunächst einnimmt. Ξrfindungsgemäß werden dabei die durch die Prüfimpuise verursachten Änderungen des Schaltzustandes am Ausgang der Trigger¬ stufe 14 so kurz gewählt, daß die nachgeschalteten Schalteinrichtungen nicht auf die kurzfristigen Pegel¬ änderungen am Ausgang der Triggerstufe 1 ansprechen. Diese kurzfristigen bzw. impulsförmigen Pegelände¬ rungen am Ausgang der Triggerstufe werden jedoch von der PrüfSchaltung 18 erfasst, die dann, wenn innerhalb eines vorgegebenen Zeitintervalls keine Pegeländerung am Ausgang der Triggerstufe auftritt, an ihrem Prüf¬ ausgang P ein Signal liefert, welches eine Funktions¬ störung des NäherungsSchalters anzeigt.
    [0023] Die Funktion des erfindungsgemäßen Näherungsschalters, welche vorstehend allgemein erläutert wurde , soll nachstehend anhand des Schaltbilds gemäß Fig. 2 noch näher erläutert werden. Wie Fig. 2 zeigt, ist der Oszillator 10 gemäß einem bevorzugten Ausführungsbei- spiel der Erfindung als analog arbeitender Oszillator ausgebildet, der an die beiden Pole einer Speisespan¬ nungsquelle (nicht dargestellt) angeschlossen ist, welche eine positive Spannung +U und eine (relativ dazu) negative Spannung -U liefert. Der Oszillator 10 ist beim Ausführungsbeispiel, welches einen induktiven NäherungsSchalter betrifft, in bekannter Weise mit einer Induktivität L,einem ersten Kondensator C1 , zwei npn-Transistoren T1 , T2 und fünf Widerständen R1 bis R5 aufgebaut, von denen der Widerstand R5 als einstell¬ barer Widerstand bzw. als Potentiometer ausgebildet ist. Ein Oszillator 10 des betreffenden Typs ist in der Firmendruckschrift "Integrated Circuit Design - Manual; Linear-Interdesign" der Firma Ferranti vom August 1980 beschrieben.
    [0024] Die Prüfimpulsquelle 16 ist gemäß Fig. 2 über einen Kondensator C2 an den gemeinsamen Verbindungspunkt der Emitter der beiden Transistoren T1 und T2 angekoppelt. Die Prüfimpulsquelle 16 ist so ausgebildet, daß sie,wie in der Zeichnung am Ausgang der Prüfiπspulsquelle ange¬ deutet, steile und relativ kurze bipolare Doppelimpulse liefert. Diese Doppelimpulse werden dem AusgangsSignal des Oszillators 10 direkt überlagert, wie dies aus Fig. 3 deutlich wird, wo die Oszillatorspannung U über dem Abstand a eines Schaltnockens von der aktiven
    [0025] O PI [ " Fläche des Näherungssehalters dargestellt ist. Das Ausgangssignal des Oszillators 10 mit den überlagerten Prüfimpulsen wird in dem De odulator 12, welcher in üblicher Weise aus zwei Kondensatoren C3 , C4, zwei Dioden D1 , D2 und einem Widerstand R6 aufgebaut ist, gleichgerichtet und an den Eingang der Triggerstufe 14 gelegt. Auch die Triggerstufe 14 ist in üblicher Weise aus zwei Transistoren T3, T4 und mehreren Wider¬ ständen R7 bis R14 sowie einem Kondensator C5 aufge¬ baut. Dabei lassen sich die Schaltschwellen an dem einstellbaren Widerstand R9 einstellen, während C5 die Aufrechterhaltung der Hysterese der Triggerstufe 14 gewährleist Der Ausgang der Triggerstufe 14, nämlich der Kollek¬ tor des Transistors ~" , ist mit dem Verstärker 20 verbunden, der einen Leistungstransistor T5 (Darlington- Schaltung) mit einem Basisspannungsteiler aus zwei Widerständen R14 und R15 und eine parallel zur Kollek¬ tor-Emitter-Strecker des Transistors T5 geschaltete Zener- Diode D3 aufweist, wobei der Kollektor des Transistors T5 zum Kurzschlußschütz mit dem Ausgang A über einen tempera-curaonangigen Widerstand PTC mit positivem Temperaturkoeffizienten verbunden ist. Beim Ausführungs¬ beispiel liegt in der mit dem Ausgang A verbundenen Eingangsleitung.der PrüfSchaltung 18 ein Kondensator C6, dessen vom Ausgang A abgewandte Elektrode über eine erste Diode D4 mit dem negativen Pol -U der Spei- sespannungsquelle und über eine zweite Diode D5 mit der Basis eines Ausgangstransistors Tβ verbunden ist, wobei die Basis des Transistors T6 über einen Konden-
    [0026] *) (Kaltleiter) sator C7 mit dem negativen Pol -U verbunden ist, wo¬ bei der Emitter des Transistors Tβ über einen Wider¬ stand R16 ebenfalls mit dem negativen Pol -U verbunden ist, und wobei parallel zur Kollektor-Emitter-Strecke des Transistors T6 ein relativ großer Kondensator, beispielsweise mit einer Kapazität von 1 μF, liegt, der mit dem Bezugszeichen C8 bezeichnet ist. Man er¬ kennt, daß der Transistor T6 der PrüfSchaltung durch positive Schaltflanken am Ausgang des Verstärkers 20 leitend gesteuert und und dabei im wesentlichen die negative Spannung -U an die mit dem Prüfausgang P ver¬ bundene Platte des Kondensators C8 legt, an der bei gesperrtem Transistor Tβ über einen -mit dem positiven Pol +U der Speisespannungsquelle verbundenen Widerstand R17 die positive Spannung +U auftritt, wenn der Tran¬ sistor T6 der PrüfSchaltung 18 während eines vorgege¬ benen Zeitintervalls, welches durch das RC-Glied R17, C8 bestimmt wird, kein Durchsteuern des Transistors T6 in den leitfähigen Zustand erfolgt, was als Fehl¬ funktion der Schaltung ausgewertet wird.
    [0027] Aus der vorstehenden Beschreibung wird deutlich, daß die von der Prüfimpulsquelle erzeugten Doppelimpulse derart an einen entsprechenden Anschluß des Oszilla¬ tors angelegt werden bzw. in diesen eingekoppelt werden, daß sie dem an dem betreffenden Anschluß fließenden Strom bzw. der an dem betreffenden Anschluß herrschen¬ den Spannung überlagert werden. Dabei kann beispiels¬ weise die Speisespannung für den Oszillator kurzfristig
    [0028] OMFI gegenüber der normalen Spannung auf einen höheren und auf einen niedrigeren Pegel geschaltet werden, um so einen entsprechenden Doppelimpuls zu erzeugen. Gegebe¬ nenfalls kann auch eine kombinierte Überlagerung des Speisestroms und der Speisespannung mit DoppelImpulsen aus der Prüfimpulsquelle erfolgen. Auf jeden Fall wird gemäß der Erfindung durch die PrüfImpulse keine Zu- oder Abschaltung von Widerständen im Oszillator herbei¬ geführt, wie dies bisher zur Simulation einer Be- oder Entdämpfung üblich war. Die inneren Parameter des Oszil¬ lators, die durch die bisher zu- bzw. abgeschalteten Widerstände mit bestimmt werden, werden also nicht beeinflusst, vielmehr werden die als Prüfimpulse die¬ nenden Doppelimpulse an einer bestimmten Stelle auf den dort fließenden Strom bzw. auf die dort herrschende Spannung "aufgesetzt" , ohne daß hierdurch die inneren Parameter des Oszillators beeinflusst würden.
    [0029] Besonders vorteilhaft ist es, wenn die Einkoppelung der Doppelimpulse über eine Stromspiegelschaltung er¬ folgt, wie sie aus der IC-Technik bekannt ist.
    权利要求:
    ClaimsP a t e n t a n s p r ü c h e
    1. Selbstprüfender Näherungsschalter mit einem Oszil¬ lator, mit einem Demodulator, mit einer Trigger¬ stufe, mit einer getakteten Prüfimpulsquelle, wel¬ che PrüfImpulse, deren positive und deren negative Amplitude ausreichend hoch ist, um unabhängig vom Schaltzustand der Triggerstufe jeweils für die Dauer eines Einzelimpulses ein Kippen derselben in den jeweils anderen Schaltzustand derselben herbei¬ zuführen, an den Oszillator zum Simulieren einer Ent- oder Bedämpfung desselben anlegt, und mit ei¬ ner auf die in Abhängigkeit von den Prüfimpulsen auftretenden Pegeländerungen des Ausgangssignals der Triggerstufe ansprechenden, der Erzeugung eines Prüfausgangssignals dienenden PrüfSchaltung, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß der Oszillator (10) als analog arbeitender Oszillator mit einer in Abhängigkeit von einer Be¬ dämpfung stetig veränderbaren Schwingungsamplitude ausgebildet ist und daß die Prüfimpulse der Prüf¬ impulsquelle (16) in Form bipolarer Doppelimpulse an einen Anschluß des Oszillators (10) anlegbar sind, an dem sie der Speisespannung und/oder dem Speisestrom des Oszillators (10) überlagerbar sind.
    2. NäherungsSchalter nach Anspruch 1, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß die Prüfschaltung (18) als aktive Verstärkerschaltung ausgebildet ist.
    3. NäherungsSchalter nach Anspruch 2, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß die Prüfschaltung (18) induktiv an den Ausgang der Triggerstufe (14) angekoppelt ist.
    4. NäherungsSchalter nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfschaltung (18) als Stromquellenschaltung ausgebildet ist.
    5. Näherungsschalter nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfimpulsquelle (16) zur kapazitiven Einkoppelung der Prüfimpulse an den Oszillator (10) über eine Kapazität (C2) angekoppelt ist.
    6. Näherungsschalter nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfimpulsquelle (16) zur induktiven Einkoppelung der Prüfimpulse induktiv an den Oszillator (10) angekoppelt ist.
    7. NäherungsSchalter nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Dauer der Prüfim- pulse kürzer ist als die Ansprechzeit der von den Ausgangssignalen des Näherungsschalters ge¬ steuerten Schalteinrichtungen.
    8. Näherungsschalter nach Anspruch 7, dadurch gekenn¬ zeichnet, daß die Dauer der Prüfimpulse kleiner als 0,5 ms ist.
    9. Näherungsschalter nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Impulsfolgefrequenz der PrüfImpulse etwa 200 Hz beträgt.
    10. Näherungsschalter nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Amplitude der po¬ sitiven und der negativen Einzelimpulse der Prüf¬ impulse derart gewählt ist, daß bei jedem Arbeits¬ punkt der Triggerstufe (14) die von diesem Arbeits¬ punkt jeweils weiter entfernte Schaltschwelle der Triggerstufe (14) gerade noch überschreitbar ist.
    11. NäherungsSchalter nach Anspruch 10, dadurch ge-..- kennzeichnet, daß die positive und die negative Amplitude der Einzelimpulse der Prüfimpulse exakt der Amplitudenänderung bei Bedämpfung des Oszil¬ lators (10) durch einen dem Näherungsschalter zu¬ geordneten Schaltnocken entspricht.
    12. Näherungsschalter nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfschaltung (18) als bistabile Schaltstufe mit zwei antivalenten Ausgängen ausgebildet ist.
    13. NäherungsSchalter nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfschaltung (18) derart ausgebildet ist, daß das Signal am Prüfaus- gang (P) bei störungsfreiem Betrieb jeweils anti- valent zum Signal am Ausgang (A) des Näherungs¬ schalters ist.
    O I
    14. Näherungsschalter nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfschaltung (18) räumlich als Bestandteil des Näherungsschalters selbst vorgesehen ist.
    15. NäherungsSchalter nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfschaltung (18) als Bestandteil der von dem Näherungsschalter ge¬ steuerten Schalteinrichtungen ausgebildet und räumlich von den Schaltkreisen des NäherungsSchal¬ ters selbst getrennt ist.
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