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    公开号:WO1981001460A1
    申请号:PCT/JP1980/000283
    申请日:1980-11-19
    公开日:1981-05-28
    发明作者:M Tano
    申请人:Dainippon Printing Co Ltd；M Tano；
    IPC主号:G01B11-00
    专利说明:
    [0001] 明 カ ー ト ン押 し藓高 さ測定装置 技 術 分 野
    [0002] 本発明は、 力 一 ト ン の押 し薺高さ を測定す る装置に 関する も の であ る。 景 技 術
    [0003] 力一 ト ンの折 曲 げ部 （ 押 し薪部 ） の齒げ ト ル ク に 異常が あ る と 、 製函機 • 充塡機等にかけた場合に、 開 き 不良、 折れ不良、 割れ等が発生する。 したがって、 こ の よ う こ と が起 こ るの を防 ぐた めに、 予 め折 曲 げ ト ル ク の測定を行 う こ と に よ っ て、 折 ] 曲 げ適性 の チ エ ツ ク を し ければ ら な い。 しか し、 折 ] 曲 げ ト ル ク の測定は非常に時間がかかる ので、 その簡便法 と して、 曲 げ ト ル ク と 相関の あ る押 し鄯高さ の測定が 、 ダ イ ァ ル ゲー ジ等 を用いて行 なわれている。 つま 試料 を定盤 と 測定子 の間 に挿入 し、 押 し鮮の な い平 ら ¾部分でゼ ロ 基準を定め て、 その後、 押 し薺の高さ を 測定する。 そ して、 次の押 し募の高 さ を測定する には 、 再びゼ 口基準を決めなければ な ら な い
    [0004] こ の よ う に、 カ ー ト ン の押 し募 1 個所ずつの測定で あ ] 、 ゼ 口 基準 を定めた ]9 す る の で余計に時間がかか ]9 不具合で あった。 こ こ において、 本発明は、 以上の よ う る点に鑑み、 試料を 自 動的に搬送 し、 各押 し募毎のゼ ロ基準設定や 、 押 し葑高さ の測定、 及びその値の表示 ' 記録等を 自 動的に行なわせるた めの装置を提供 し よ う と する も の で あ る。 発 明 の 開 示
    [0005] 本発明 に よ れば、 上記 目 的 は、 次 の よ う な カ ー ト ン 押 し薪高さ測定装置の構成、 する わち、 試料の紙厚が 変化 して も 自 動的に押 し爵近傍の紙表面か らの高さ の みを測定する機能 と 、 押 し爵毎の高さ を表示する機能 と を設けた 力 一 ト ン押 し爵高 さ 測定装置に よ って達成 さ れる。 図面の簡単 る説明
    [0006] 第 1 図は本発明の一実施例の斜視図、 第 2 図は第 1 21の矢印 A 方向か ら見た正面図、 第 3 図は第 1 図の矢 印 B 方向 か ら見た側面図、 第 4 図はその測定部の部分 説明図、 第 5 図はその羝押え部の部分説明 図、 第 6 図 は光学的測定方法の説明図、 第 7 図は半導体圧抵抗セ ン サ を用 いた場合の測定方法の説明図、 第 8 図はその 表示部の外観図、 第 9 図はその信号処理部の ス テ ッ プ を示すブ ロ ッ ク 図、 第 0 図は試料の断面図、 第 1 1 図はその測定の流れ図、 第 1 2 図は第 9 図の測定 · 表 示の部分をさ らに詳 し く 示 した ブ ロ ッ ク 図、 第 1 3 図
    [0007] "ニニ 0 -Ρ1 はその測定の タ ィ 厶 チヤー ト で あ る 発明 を実施する ための最良の形態
    [0008] 次 に、 図面を参照 して本発明の実施例を説明する。 第 1 図において、 試料を鎩送するための 口 ー ラ 1 が 設けて あ 、 こ の搬送 口 一 ラ 1 には，駆動モ ー タ 2 がべ ノレ 卜 3 等で連結さ れて ] 、 パ ヮ 一 ボ タ ン 4 の オ ン と と も に、 一定の速さ で回転を始める。
    [0009] た、 試料が多少反っていて も 測定可能る よ う に、 紙押ぇ コ ロ 5 が 2 個設けて あ ( 第 3 図 ） 、 それぞれ ス ブ リ ン ク' 6 に よ 遨送 ロ ー ラ 1 に押 し付け られてい る （ 第 5 図 ） 。 こ の紙押え コ ロ 5 が当 た る搬送 口 一 ラ 1 の部分には 、 試料の滑 を防 ぐため ロ ー レ ッ ト を切 つて る o あ るいはま た ロ ー レ ッ ト を切 る代 に、 紙 押え コ ロ 5 が当 る搬送 π — ラ 1 の部分に ゴ 厶 を ラ イ 二 ン グす る方法等 も あ る。
    [0010] 次に第 4 21 に示 した測定部は試料の走査を コ a 7 で 行 ¾ い、 その動 き を テ コ 8 を介 して差動変圧器 9 の コ ァ 1 0 に伝えてい る。
    [0011] しか して、 こ の実施例では変位検出手段 と して接触 式で る 動変圧器を適用 し ている が、 他に、 可動 コ ィ ノレゝ ポ テ ン シ ョ メ ー タ 、 ひ み ゲー ジ、 半導体圧抵 饥 ¾使った も の、 さ ら には走査 コ 口 等を用い ¾ い非接 触 Ό光学的方法 も 考え られ る。
    [0012] な おま た、 直線的変位を ラ ッ ク と ピ ニ 才 ンに よ
    [0013] 0丽 WIPO 回転変位に変換 して ロ ー タ リ 一 ェ ン コ ダ一 に よ ] パ ル ス と して変位を出力する ディ ジ タ ルダ イ ア ル ゲー ジ方 式 も使え る。
    [0014] と ころ で、 試料入 口 側には試料が揷入さ れた こ と を 検知 し、 前回測定値の表示を リ セ ッ ト するための光電 ス ィ ッ チ 1 1 があ ] 、 一方試料 出 口 側には試料の測定 を終了 した こ と を検知する ための光電ス ィ ッ チ 1 2 が 設けて あ る。 あ る いは、 リ セ ッ ト ス ィ ッ チを用 いて手 動で操作する こ と に よ 試料の揷入を装置へ教える方 法 も あ る。
    [0015] 測定値の出 力方法 と しては、 棒グ ラ フ に よ る表示 1 3 ( 例えば L E D 等 · 第 2 図 ） と プ リ ン タ ー 1 4 に よ る カ る。
    [0016] 第 6 図に示 した光学的測定方法を述べる。
    [0017] 光源 1 7 カ ら レ ン ズ 1 7 a を経てス ポ ッ ト 光の入射 光 2 0 が試料表面 1 8 に当 たる と反射光 2 1 , 2 2 は
    [0018] 、 試料の 凹凸の変化に よ 複数のセ ン サ を並べたス ク リ ー ンカゝ ら な る受光器 1 9 上を動 く 。 こ の受光器 1 9 上での反射光 2 1 , 2 2 の移動距離か ら押 し募の高 さ を求め る。
    [0019] 第 7 図に表わ した半導体圧抵抗変位 セ ン サを用いた 場合の測定方法を説明する。
    [0020] テ コ 8 の勤 き を ロ ッ ド 2 3 を介 して板 2 4 'に伝え る。 こ の板 2 4 には半導体ゲー ジ 2 5 が固定されてい る。 そ こ で、 板 2 4 が澆む と半導体 ゲー ジ 2 5 は圧縮ま た
    [0021] , - O PI は引張 ]9 歪を受けて、 抵抗変化を生ずる。 こ の抵抗変 化か ら押 し募の高 さ を求め る。 以上述べた以外の方法、 例えばポテ ン シ ョ メ ー タ あ るいはディ ジ タ ルダ イ ア ル ゲー ジ方式等に よ る測定を 行 ¾ う には、 第 4 図の差動変圧器 9 の部分 を直線型ポ テ ン シ ョ メ ー タ あ る いはディ ジタ ノレダ イ ア ル—ゲー ジ等 に置 き 換え る だけで良い。
    [0022] 第 8 図に示 した こ の実施例の表示部について記す。 表示部下部の番号①〜⑥は、 試料が 1 回装置を通過 す る こ と に よ ] 測定される押 し署の順番を表わ してい る。 ま た、 表示の読み取 ] が容易 よ う に、 0 . 1 m m ， 0 . 2 xn m等の 目安線 を入れる か、 あ る いは 0 .
    [0023] O m n！ 〜 0 . 1 m m の区間に緑色の L E D ， 0 , 1 m m ~ 0 . 2 m m を澄色の L E D ， 0 . 2 m n！ 〜 0 . 3 m m を赤色の L E D と い う よ う に色分け して も 良い。 お、 ス ィ ッ チ 1 5 はパ ワ ー オ ン後 の表示及び不必要 と るつた表示等を、 リ セ ッ ト するための も のであ る。
    [0024] プ リ ン タ 一 については使用す る場合 と、 使用 しな い場 合があ るの で、 専用のス ィ ッ チ 1 6 を設けて あ る。
    [0025] 次 に、 こ の実施例において、 測定が開始されて、 測 定値が表示さ れる ま での信号の流れ について説明する
    [0026] 第 9 図の信号処理部のス テ ッ プにおいて、 2 6 で試 科揷入検出 （ 前回測定値ク リ ア 、 今回測定準備 ） し、
    [0027] 2 7 で紙エ ッ ジ検出 （ 測定開始 ） の後、 2 8 で測定 ·
    [0028] ' 」·： Aひ、 一 own 表示を行 い、 2 9 で試料通過検出 （ 測定終了、 表示 保持 ） に よ つて 1 回の測定が終る。
    [0029] 第 1 0 図の試料の断面図における矢 印は試料の進行 方向 を示す。
    [0030] 第 1 1 図の測定の流れ図 と、 第 9 図の測定 · 表示 2
    [0031] 8 の部分を さ らに詳 し く 示 した第 1 2 図について述べ る o
    [0032] 第 9 図に表わす よ う に、 先づ装置 に試料が揷入さ れ て、 光電ス ィ ツ チ 1 1 の部分に差掛 る と、 光電ス イ ツ チ 1 1 に よ ] 試料挿入検出回路 2 6 が働いて、 表示部
    [0033] 1 3 の前回測定値 を ク リ ア して、 次の測定が可能な状 態にする。
    [0034] 次 に、 試料が走査 コ 口 7 と搬送 ロ ー ラ 1 の間に挿入 さ れる と 、 紙の エ ッ ジ 3 0 を検出す る回路 2 7 が働き 、 測定が開始され る。 そ して押 し募高さ の測定 · 表示 2 8 がな さ れ、 試料が出 口 側の光電ス ィ ッ チ 1 2 の部 分を通過する と、 試料の通過を検出す る回路 2 9 が働 き 測定は終了す る力；、 表示は保持さ れる。
    [0035] それか ら測定 · 表示部分 2 8 について さ ら に詳 し く 説明す る。
    [0036] 紙の エ ツ ジ 3 0 が検出 された後、 押 し募高 さ を測定 するための ゼ 口 基準 を設定す る回路 4 0 が作動する。 ゼ σ 設定回路 4 0 は押 し爵の直前の徵小区間 3 1 あ る いは 3 3 の高さ の平均値を ゼ ロ 基準 と 設定す る。 ま た は図示 し いが、 押 し昇の直後の高さ の平均値をゼ ロ 基準 と して設定する こ と も で き る。 次に、 押 し募の立 上 3 2 あ る いは 3 4 が押 し罸立上 検出回路 4 1 に よ 検出 さ れ、 さ ら に押 し募が走查 コ 口 7 を通過する 間に、 ピー ク ホ ル ド回路 4 2 に よ 最高値が検出され ホ ー ル ドさ れ る。
    [0037] こ の信号は減算器 4 3 を経て 0 変換器 4 4 でデ ィ ジタ ル情報に変換さ れ、 表示 コ ン ト 口 ー ラ 4 5 に よ デー タ 型状の変換 レ べ ノレ の ξ整等が行 ¾ われ プ リ ン タ ー に よ る記録及び L E D 等に よ る棒グ ラ フ表示 4 6 が ¾ さ れる。 こ こ で第 1 番 目 の押 し昇の測定値は第 8 図 に示 した表示部の①の部分へ表示 され、 次の試料が 揷入さ れる ま で保持され る。
    [0038] 試料出 口 側で試料の通過が検出さ れる ま で以上に述 ベた ス テ ッ プ 3 9 の よ う な動作を譟返 して、 その都度 、 押 し の高 さ が測 fe · 表示さ れる。 なお、 デ ジタ ル ダ イ ヤ ル ゲー ジ等を使用する場合は A Z D 変換器は必 要 と し い。
    [0039] し力 ¾ して、 第 1 2 図において、 1 0 1 は ア ナ ロ グ信 号入力端、 1 0 2 は交流 ア ン プ、 1 0 3 は ノ イ ズ除去 回路、 1 0 4 は積分器、 1 0 5 , 1 1 2 は遅延回路、
    [0040] 1 0 6 , 1 0 7 , 1 1 3 ， 1 1 4 は論理積 （ ア ン ド ） 回路、 1 0 8 は イ ン パー タ、 1 0 9 はタ イ マ 、 1 1 0 は コ ン パ レー タ 、 1 1 1 はモ ノ ス テ — ブ ル マ ル チ バ イ ブ レ ー タ 、 1 1 5 は B C D デ コ ー ダ、 1 1 6 は 7 セ グ メ ン ト デコ ー ダ、 1 1 7 は プ リ ン タ へ の B C D 出力端
    [0041] , O PI 1 1 8 はプ リ ン タ へ の 2 進出力端、 1 1 9 は 7 セ グ メ ン ト 出力端、 1 2 0 1 2 4 はバ ス を示す。 この測 定は試料の エ ッ ジ 3 0 が検出 さ れる と押 し罸高 さ を測 定する ためのゼ ロ 基準を設定する回路 4 0 が作動 し、 押 し募の立上 ] がその検出回路 4 1 に よ 検出 され、 さ らに押 し鄞が走査 コ 口 7 を通過す る間 に、 ピー ク ホ ル ド回路 4 2 に よ 最高値が検出 さ れホ — ル ドされ、 押 し歸の順番毎に表示部 1 3 に表示さ れる。 第 1 3 図 に検出 の タ イ ム チ ャ ー ト を表わ し、 ④は試料揷入検出 光電ス ィ ッ チ 、 ⑥は試料通過検出光電ス イ ッ チ、 ©は 測定 （ 可能 ） 、 ⑧は測定信号 （ 未処理 · ア ナ ロ グデー タ ） 、 d)は c ア ン プノ ィ ズ除去出 力、 ⑤は ピー ク · ホ ー ル ド出力、 ©はデ ジ タ ル出力で、 1 3 1 は紙エ ツ ジ、 1 3 2 は紙面、 1 3 3 は募、 1 3 4 1 3 7 は ゼ 口 設定、 1 3 8 1 4 3 は リ セ ッ ト 、 1 4 4 ~ 1 4 7 は A / D 変換をそれぞれ示 してい る。
    [0042] 以上の信号処理方法は、 主に ド ウ エ アで信号処 理回路 を構成 した場合の一実施例について述べた も の で あ るが、 同様の檨能はマ イ ク ロ コ ン ビ タ を用い た信号 ^理回路で も 実行する こ と がで き る o
    [0043] こ の場合、 検出器 （ 差動 ト ラ ン ス等 ） で得 られた ァ ナ ロ グ信号を直 ち に A Z D 変換器に よ デジタ ル信号 に変換 して C P U ( 中央 ^理装置 ） 、 メ モ リ へ取 j9 込 み、 プ ロ グ ラ ム を用いて エ ッ ジ検出、 ピー ク検 、 ピ — ク高 さ算出 を行 う 他、 表示のた めの デ一 タ変換、
    [0044] , — OMPI 出力 の制御等 も行な う こ と が可能 な ため、 コ ン パ ク ト な 構成 と する こ と がで き る。
    [0045] その上、 仕様変更 る ど について も 、 プ ロ グ ラ ム変更 で対応可能 ため柔軟性の高い装置 と する こ と がで き こ れま での説明カゝ ら明 らか ¾ よ う に、 本発明 に よ れ ば カ ー ト ン の押 し募高 さ の測定を短時間に行 な う こ と がで き 、 更に測定値が棒グ ラ フ と して リ ア ル タ イ ム で 表示されるの で、 一見 して押 し藓高 さ の良否が判別で き る。 産業上の利用可能性
    [0046] カー ト ンは物品収納容器等 と して産業上広汎 な需要 力 ¾) 。
    [0047] 従来 カ ー ト ン押 し募の 理を行 ¾ う には、 機械 式 曲げ ト ル ク 測定 ΐ¾を用い る方法があったが、 長時間 を要す る為、 的には募を光にか ざ し 目 視に よ って 高 さ を チ エ ツ ク する方法力 S用 い られている。 しか し、 こ の 目 視 チ ェ ッ ク は勘 に頼つた方法であ ] 、 かつ測定 者の熟練度等 に よ パ' ラ ッ キ があ これが為 に品 故 を引 き 起す原因 と つて ^る
    [0048] 本発明 の装置は こ の様な点に み、 Μ で多数の 爵を 自 動測定する こ と がで き る点を特長 と してお 、 品質管理の能率 を大幅に 向上させる こ と がで き る。 更 に募高 さ を数値的に確実に管理 でき るため、 品質辜故
    [0049] _ OMFI の解消 を図る こ と がで き る等非常 メ リ ッ ト カ ある。 な お、 本発明は銀行等の通帖 （ 磁気通帖 ） の押 し罸 高 さ の測定に も適用 さ れる。
    [0050] OMPI
    [0051] 、 > WIPO
    权利要求:
    Claims
    1. 試料の紙厚が変化 して も 自 動的 に押 し藓近傍の紙 表面か らの高 さ のみを測定する機能 と、 押 し薪毎の 高さ を表示す る機 と を設け た こ と を特徵 と する 力
    β _
    — ト ン押 し募高 さ測 o
    2. 押 し募毎の高 さ を各 々 棒グ ラ フ （ 1 3 ) で表示す る こ と を特徵と す る特許の請求の範圏第 1 項記載の 力 一 ト ン押 し薪高 さ 測
    3. その表示は次の試料が装置に挿入される ま で保持 される こ と を特徵 と する特許請求の範囲第 2 項記載 の カ ー ト ン押 し藓高 さ測定
    4. プ リ ン タ 一 （ 1 4 ) で記録する機能を備えた こ と を特徵 と する特許請求の範囲第 2 項記載の 力 一 ト ソ 押 し募高 さ 測定装置
    5. 押 し葑近傍の紙面か らの高さ の検出手段 と して、 差動変圧器 （ 9 ) ある いはディ ジ タ ルダイ ア ルゲ一 ジあ る いは可勤 コ ィ ル も し く はポテ ン シ ョ メ ー タ あ る いはひずみ ゲ一 ジあ る いは半導体圧抵抗 も し く は 光学的計測 に よ 行 ¾ う こ と を特徵 と す る特許請求 の範囲第 1 項記載の カ ー ト ン押 し募高 さ 測定装置。
    一 OMPI
    类似技术:
    公开号 | 公开日 | 专利标题
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    US7151608B2|2006-12-19|Method for measuring the thickness of a mail item
    同族专利:
    公开号 | 公开日
    US4408487A|1983-10-11|
    DE3050042A1|1982-03-25|
    CH646098A5|1984-11-15|
    JPS5677709U|1981-06-24|
    引用文献:
    公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
    法律状态:
    1981-05-28| AK| Designated states|Designated state(s): CH DE US |
    1982-03-25| RET| De translation (de og part 6b)|Ref document number: 3050042 Country of ref document: DE Date of ref document: 19820325 |
    1982-03-25| WWE| Wipo information: entry into national phase|Ref document number: 3050042 Country of ref document: DE |
    优先权:
    申请号 | 申请日 | 专利标题
    JP1979160399U|JPS5677709U|1979-11-21|1979-11-21||
    JP79/160399||1979-11-21||DE803050042A| DE3050042A1|1979-11-21|1980-11-19|Device for measuring the height of pressed folding-lines on a carton|
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