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    • 专利摘要:
    一種噪音測試系統，包括一電子設備及一噪音計，所述噪音計用於檢測所述電子設備發出之噪音，所述噪音測試系統還包括一測試桌，所述測試桌包括一桌面，所述桌面上刻有刻度線且標識有對應之刻度值，所述電子設備包括多個分立之元件，所述電子設備之各元件及所述噪音計均放置於所述測試桌之桌面上，所述電子設備之元件與元件之間之距離及各元件與所述噪音計之間之距離藉由所述測試桌桌面上之刻度線調節至預定之範圍內。本發明還揭示了一種基於上述噪音測試系統之噪音測試方法。
    公开号:TW201323837A
    申请号:TW100146762
    申请日:2011-12-16
    公开日:2013-06-16
    发明作者:xiao-li Liu；Yu-Lin Liu；Wen-Ming Yi；Cong-Xu Hu
    申请人:Hon Hai Prec Ind Co Ltd；
    IPC主号:G01H17-00
    专利说明:
    噪音測試系統及方法
    本發明涉及一種噪音測試系統及方法。
    對電子裝置進行噪音測試時，通常將電子裝置放置於一固定位置，再將噪音計放置於臨近所述電子裝置之位置，使噪音計與電子裝置之距離保持在預定之範圍內，所述電子裝置工作時產生之噪音聲波傳遞至所述噪音計，所述噪音計測取接收到之聲波強度，測試者可判斷測取之聲波強度是否超出預設值，如果超出預設值，則表示電子裝置之噪音測試不合格；如果未超出預設值，則表示電子裝置之噪音測試合格。然，習知之噪音測試系統及方法需利用刻度值人工反復量測噪音計與電子裝置之間之距離，操作費時，測試效率低，且易於產生誤差。
    鑒於以上內容，有必要提供一種測試效率較高且測試誤差較小之噪音測試系統及方法。
    一種噪音測試系統，包括一電子設備及一噪音計，所述噪音計用於檢測所述電子設備發出之噪音，所述噪音測試系統還包括一測試桌，所述測試桌包括一桌面，所述桌面上刻有刻度線且標識有對應之刻度值，所述電子設備包括多個分立之元件，所述電子設備之各元件及所述噪音計均放置於所述測試桌之桌面上，所述電子設備之元件與元件之間之距離及各元件與所述噪音計之間之距離藉由所述測試桌桌面上之刻度線調節至預定之範圍內。
    一種噪音測試方法，包括以下步驟：提供一測試桌，該測試桌之桌面刻有刻度線且標識有對應之刻度值；將一電子設備及一噪音計放置於所述測試桌上；利用所述測試桌之刻度線調整所述電子設備及所述噪音計之擺放位置；所述噪音計測取所述電子設備之噪音；及判斷所述電子設備產生之噪音是否超出預設之標準。
    相較於習知技術，上述噪音測試系統及方法利用具有刻度線之測試桌方便測試者調整所述電子設備與噪音計之間之距離，無需借助刻度尺反復測量電子設備之各元件與噪音計之間之距離，可減少測量誤差，提高測試準確度，且可節省測量時間，提高測試效率。
    請參閱圖1，本發明噪音測試系統之較佳實施方式包括一電腦設備10、一測試桌20及一噪音計30。於一較佳實施方式中，所述電腦設備10為一桌上型電腦設備，包括一主機11、一顯示器12及一鍵盤13。
    請參閱圖2及圖3，所述測試桌20包括一桌面22、四根垂直固定於所述桌面22下方之支腳24及四加強肋26，每一加強肋26垂直固定於兩相鄰之支腳24之間。所述桌面22呈長方形或正方形，所述四根支腳24分別固定於所述桌面22下側之四角。所述桌面22上刻有刻度線221及網格狀之連線223。於一較佳實施方式中，所述桌面22之每一側緣上兩相鄰之刻度線221之間之距離為1 cm（釐米），即最小刻度值為1cm；所述連線223包括垂直連接於所述桌面22之一對相對側緣之間之橫向連線及垂直連接於所述桌面22之另一對相對側緣之間之縱向連線，每兩平行相鄰之橫向或縱向連線223之間之距離均為10cm；所述桌面22之至少一對垂直相連之側緣上標有刻度值，例如，於10cm、20cm、30cm、40cm、50cm、60cm、70cm處標識有10、20、30、40、50、60、70；所述橫向或縱向連線223分別與該等標識有刻度值之刻度線相連。
    測試時，將所述電腦設備10之主機11、顯示器12、鍵盤13放置於所述測試桌20之桌面22上，利用所述桌面22上之刻度線221及網格狀之連線223將所述主機11、顯示器12及鍵盤13之間之距離調節至規定之範圍內。再將所述噪音計30放置於所述測試桌20之桌面上，利用所述桌面22上之刻度線221及網格狀之連線223將所述噪音計30與所述主機11、顯示器12及鍵盤13之間之距離調節至規定之範圍內。而後，開啟並操作所述電腦設備10，使所述主機11、顯示器12及鍵盤13均開始工作，所述噪音計30即可測取所述電腦設備10工作時各元件之綜合噪音。於一較佳實施方式中，所述噪音計30包括一顯示幕，可顯示測取之噪音之分貝值，測試者將顯示之噪音之分貝值與預設之噪音參數作比較即可判斷所述電腦設備10之噪音測試是否合格。
    請參閱圖4，一種基於上述噪音測試系統之噪音測試方法，包括以下步驟：
    S01：將所述電腦設備10之主機11、顯示器12及鍵盤13放置於所述測試桌20之桌面22上。
    S02：利用所述測試桌20之桌面22上之刻度線221及網格狀之連線223調整所述主機11、顯示器12及鍵盤13之間之距離。於此步驟中，可先將所述主機11底面之邊緣沿所述桌面22上之刻度線221及/或所述網格狀之連線223放置，再按規定之距離放置所述顯示器12及所述鍵盤13。
    S03：將所述噪音計30放置於所述測試桌20之桌面22上。
    S04：利用所述測試桌20之桌面22上之刻度線221及網格狀之連線223將所述噪音計30到所述主機11、顯示器12及鍵盤13之間之距離調整至規定之範圍內。
    S05：開啟並操作所述電腦設備10，使所述電腦設備10之主機11、顯示器12及鍵盤13開始工作。
    S06：所述噪音計30測取所述電腦設備10之主機11、顯示器12及鍵盤13工作時發出之綜合噪音。
    S07：將所述噪音計30測取之噪音之分貝值與預設之噪音分貝值作比較，以判斷所述噪音計30測取之噪音之分貝值是否超過預設之噪音分貝值，如果測取之噪音之分貝值超過預設之噪音分貝值，則進入步驟S08；如果測取之噪音之分貝值未超過預設之噪音分貝值，則進入步驟S09。此比較及判斷步驟可由測試者人工完成或由一測試電腦自動完成。
    S08：得出所述電腦設備10之噪音測試不合格之測試結果。
    S09：得出所述電腦設備10之噪音測試合格之測試結果。
    於本發明較佳實施方式中，所述噪音測試系統及方法可測取所述電腦設備10之主機11、顯示器12及鍵盤13工作時之綜合噪音，亦可分別測取所述主機11、顯示器12及鍵盤13工作時產生之噪音；所述噪音測試系統及方法還可用於測取筆記本電腦、數位相機、手機、印表機等其他電子產品之噪音。
    綜上所述，本發明確已符合發明專利要求，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，舉凡熟悉本發明技藝之人士，爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
    10．．．電腦設備
    11．．．主機
    12．．．顯示器
    13．．．鍵盤
    20．．．測試桌
    22．．．桌面
    221．．．刻度線
    223．．．連線
    24．．．支腳
    26．．．加強肋
    30．．．噪音計
    圖1是本發明噪音測試系統之一較佳實施方式之組成圖。
    圖2是圖1中測試桌之立體圖。
    圖3是圖2中測試桌桌面之正視圖。
    圖4是本發明噪音測試方法之一較佳實施方式之流程圖。
    10．．．電腦設備
    11．．．主機
    12．．．顯示器
    13．．．鍵盤
    20．．．測試桌
    30．．．噪音計
    权利要求:
    Claims (10)
    [1] 一種噪音測試系統，包括一電子設備及一噪音計，所述噪音計用於檢測所述電子設備發出之噪音，所述噪音測試系統還包括一測試桌，所述測試桌包括一桌面，所述桌面上刻有刻度線且標識有對應之刻度值，所述電子設備包括多個分立之元件，所述電子設備之各元件及所述噪音計均放置於所述測試桌之桌面上，所述電子設備之元件與元件之間之距離及各元件與所述噪音計之間之距離藉由所述測試桌桌面上之刻度線調節至預定之範圍內。
    [2] 如申請專利範圍第1項所述之噪音測試系統，其中所述電子設備為一桌上型電腦設備，所述桌上型電腦設備包括一電腦主機、一顯示器及一鍵盤。
    [3] 如申請專利範圍第1項所述之噪音測試系統，其中所述測試桌還包括四根分別固定於所述桌面下方之支腳及垂直連接於每兩相鄰之支腳之間之加強肋。
    [4] 如申請專利範圍第1項所述之噪音測試系統，其中所述測試桌之桌面呈長方形或正方形，所述桌面之四側緣均刻有刻度線，所述桌面之至少一對垂直相連之側緣標有刻度值。
    [5] 如申請專利範圍第4項所述之噪音測試系統，其中所述測試桌之桌面上刻有網格狀之連線，該等連線之間相互垂直或平行。
    [6] 如申請專利範圍第5項所述之噪音測試系統，其中所述測試桌桌面之每一邊緣上相鄰之兩刻度線之間之距離為1釐米，所述桌面上每兩平行相鄰之連線之間之距離為10釐米。
    [7] 一種噪音測試方法，包括以下步驟：提供一測試桌，該測試桌之桌面刻有刻度線且標識有對應之刻度值；將一電子設備及一噪音計放置於所述測試桌上；利用所述測試桌之刻度線調整所述電子設備及所述噪音計之擺放位置；所述噪音計測取所述電子設備之噪音；及判斷所述電子設備產生之噪音是否超出預設之標準。
    [8] 如申請專利範圍第7項所述之噪音測試方法，其中所述利用測試桌之刻度線調整所述電子設備及所述噪音計之擺放位置之步驟包括調整所述電子設備之元件與元件之間之距離及調整所述電子設備之各元件與所述噪音計之間之距離之子步驟。
    [9] 如申請專利範圍第7項所述之噪音測試方法，其中所述噪音測試方法還包括於判斷所述電子設備產生之噪音是否超出預設之標準之前將所述噪音計測取之噪音之分貝值與預設之噪音分貝值作比較之步驟。
    [10] 如申請專利範圍第9項所述之噪音測試方法，其中如果所述噪音計測取之噪音之分貝值超過所述預設之噪音分貝值，則判斷所述電子設備之噪音測試不合格；如果所述噪音計測取之噪音之分貝值未超出所述預設之噪音分貝值，則判斷所述電子設備之噪音測試不合格。
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