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    • 专利摘要:
    一種採用自比量尺之測驗系統，係包括用於產生具有題目、量尺及位於該量尺上之複數標籤之測驗試題的試題模組，使該複數標籤於該量尺上移動，並依據該題目將各該標籤移動至該量尺上對應之位置的作答模組，以及紀錄各該標籤所對應之位置而成為落點資訊的紀錄模組，其中，該落點資訊係用以比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題之各該標籤之間的關聯性。因此，經測驗後不僅可提供受試者自身或者多位受試者之間對測試結果作分析，同時減少測驗作假情況以及難以分析等習知缺陷。
    公开号:TW201303810A
    申请号:TW100124546
    申请日:2011-07-12
    公开日:2013-01-16
    发明作者:Yao-Ting Sung
    申请人:Univ Nat Taiwan Normal；
    IPC主号:G09B7-00
    专利说明:
    採用自比量尺之測驗系統及其方法
    本發明係關於一種採用自比量尺(ipsative scale)之測驗系統及其方法，更詳而言之，係一種可分析測驗內容對於受試者本身或受試者間之影響程度的測驗系統及其方法。
    為了知悉每個人的思想與個性，可透過如情意測驗、人格測驗或市場調查問卷等測驗達到目的，傳統上多採用李克特氏點量尺(Likert scale)作為測驗工具，藉由受測結果以得知受試者特質。
    對於業界人才甄選時，傳統問卷常以李克特氏點量尺之形式來供受試者作答，如第5A圖所示，係表示採用李克特氏自陳量表之問卷題目的示意圖，其中，受試者依喜好程度而給予各選項評分，其中有1~6分可供選擇，然而實務上測驗分數可能影響後續決策，例如受試者對於某選項喜好程度低而無法錄取，因而在該自陳量表作答時容易產生作假情況，也就是受試者可能依據甄選職務的需求，而將備受期待特質之選項高分以增加競爭優勢，如此使得測驗無法反應真實情況。
    為避免前述受試者作假情況，目前實務上還採用另一種自比式試題(ipsative item)作為測驗工具，如第5B圖所示，係表示採用自比式試題之問卷題目的示意圖，其中，受試者需於兩選項間比較出優劣順序，相較於前述採用自陳量表時，受試者可能對於所有選項給予高分，但自比式試題強迫受試者需區分出各選項的優劣，如優者得一分而劣者得零分，再統計每一選項總分以分出相較高低，若要作假，需確定每一個選項重要性及排序才能作假，因而利用自比式試題確實可降低受試者作假情況，但此種自比式試題仍然有兩個問題，第一是計分結果僅能解釋該受試者各選項(即應受試者內在特質)的優劣順序，但無法用於受試者之間的比較，第二是其得分無法進行因素分析，由於自比式試題中不同選項(特質)間互依性太強，使得每一受試者所有選項的加總分數一樣，如第5C圖所示，不同受試者在自比式試題測驗後僅能知悉各受試者對於各選項喜好程度，但無法說明兩受試者對於同一選項的喜好程度高低，例如該圖僅能說明受試者A對看電影的喜好程度優於看展覽，而不能解釋受試者A看電影的喜好程度優於受試者B看電影的喜好程度，因而在解釋各特質間比較時會產生極大困難。
    因此，現行無論是採用自陳量表或者自比式試題進行測驗皆有其缺點，在期望測驗結果具高可信度及可供因素分析的需求下，如何找出一種更完善測驗系統，不僅可測驗出受試者內在特質的強弱，更可用於比較不同受試者間同一特質的強度大小，此仍屬本領域之技術人員所應努力的目標。
    鑒於上述習知技術之缺點，本發明之目的在於提出一種採用自比量尺之測驗系統及其方法，透過結合李克特氏自陳量表與自比式試題之特性，而產生可分析測驗內容對於單一受試者或不同受試者影響之測驗試題。
    為達成前述目的及其他目的，本發明提供一種採用自比量尺之測驗系統，係包括：試題模組，係用於產生測驗試題，而該測驗試題具有題目、一量尺及位於該量尺上之複數標籤；作答模組，係用於提供該複數標籤在該量尺上移動，以由受試者依據該題目移動各該標籤至該量尺上對應之位置；以及紀錄模組，係用於紀錄各該標籤於該量尺上所對應之位置而成為落點資訊，其中，該落點資訊用以比較係單一受試者或不同受試者間對該測驗試題之各該標籤之間的關聯性。
    於一實施形態中，該落點資訊係包括紀錄各該標籤於該量尺上所在位置之座標資料以及紀錄各該標籤間先後順序之次序資料。
    於一較佳實施形態中，本發明之採用自比量尺之測驗系統復包括分析模組，係用於計算任一標籤的落點資訊，以得到該標籤於該測驗試題之強度值。
    此外，該關聯性係指該分析模組依據各該標籤之強度值產生各該標籤之強度值，以得到各該標籤對該單一受試者的強度關係，以及同一標籤於該些不同受試者間的強度關係。
    再者，本發明又提出一種採用自比量尺之測驗方法，係包括以下步驟：(1)產生具有題目、一量尺及位於該量尺上之複數標籤之測驗試題；(2)依據該題目將各該標籤移動至該量尺上對應之位置；(3)紀錄各該標籤於該量尺上所對應之位置以成為各該標籤之落點資訊；以及(4)分析該些落點資訊，以用於比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題之各該標籤之間的關聯性。
    相較於習知技術，本發明所述之採用自比量尺之測驗系統及其方法，其測驗試題是結合李克特氏自陳量表與自比式試題兩者的特性而形成，其測驗結果具有較高可信度，不僅可用決定受試者內在特質的強弱，同時可用於相異受試者之間對同一特質的比較，此為習知自陳量表或自比式試題之測驗方式所無法達到，因而，採用本發明之測驗方式可得到具分析價值的測驗結果，同時可分析出測驗試題之測驗內容對於受試者的影響程度。
    以下藉由特定的具體實施形態說明本發明之技術內容，熟悉此技藝之人士可由本說明書所揭示之內容輕易地瞭解本發明之其他優點與功效。本發明亦可藉由其他不同的具體實施形態加以施行或應用。
    請參閱第1圖，係本發明採用自比量尺之測驗系統之系統架構圖。如圖所示，該採用自比量尺之測驗系統1係結合自陳量表與自比式試題之特性而形成的測驗系統，該採用自比量尺之測驗系統1包括：試題模組10、作答模組11以及紀錄模組12。
    於此須說明的是，前述採用自比量尺之測驗系統1可應用於電腦等資料處理設備中予以執行，用以提供如職場測驗、性向測驗、興趣測驗、人格測驗或市場調查問卷等特質測驗或調查，惟，本發明之採用自比量尺之測驗系統1其技術特徵在於測驗方式及測驗結果，故並無需侷限該採用自比量尺之測驗系統1之用途。
    試題模組10係用於產生測驗試題，而該測驗試題具有題目、一量尺及位於該量尺上之複數標籤。具體來說，該試題模組10用於產生供受試者100作答之測驗試題，有別於習知的自陳量表僅對各選項填入分數，或是習知的自比式試題僅能於兩選項擇一給分的測驗方式，該試題模組10所提供之測驗試題包括題目、一量尺以及位於該量尺上之複數標籤，其中，題目表示試題內容，該量尺為不含刻度的連續軸，因而該量尺任一點皆可為標籤的落點，其兩端代表最高和最低的分數、程度或意願，而測驗試題內還有複數不同敘述選項讓受試者100進行作答，而各該標籤即對應該些敘述選項，換言之，量尺上之複數標籤表示其對應之敘述選項，而受試者100可透過該些標籤進行作答。
    作答模組11係用於提供該複數標籤在該量尺上移動，以由受試者100依據該題目移動各該標籤至該量尺上對應之位置。如前所述，試題模組10所提供測驗試題具有量尺及複數標籤，而受試者100可由該題目內容，來移動在量尺上對應該些敘述選項之複數標籤，其移動方式透過拖曳該些標籤來達成，以使各該標籤移動至量尺上適當位置，由於該量尺兩端表示最高和最低的程度，故，受試者100可依自身想法而進行作答。
    紀錄模組12係用於紀錄各該標籤於該量尺上所對應之位置而成為落點資訊，其中，該落點資訊係用以比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題之各該標籤之間的關聯性。待受試者100將各標籤移動至適當位置後，紀錄模組12將紀錄各該標籤在量尺上所在位置，於此稱之為落點資訊，可供用於後續資料分析，該落點資訊包括座標資料及次序資料，該座標資料係紀錄各標籤於該量尺所在位置，可供後續強度比較分析使用，而該次序資料係紀錄各該標籤先後順序，可用於判斷出各標籤對受試者100的影響度大小。因此，透過各標籤的落點資訊可供後續分析，像是單一受試者對該測驗試題之各該標籤之間的關聯性，或者是不同受試者間對於同一標籤的關聯性。
    前面所述之關聯性係指透過各該標籤之強度值，經分析計算而得到各該標籤對該單一受試者的強度關係，也就是測驗試題內之各選項間對於單一受試者的影響程度，還可分析計算而得到同一標籤於該些不同受試者間的強度關係，亦即一個選項對於不同受試者之間的影響大小。
    換言之，該座標資料係紀錄座標在量尺上位置，如前面所述，受試者100受測時該量尺為不含刻度的連續軸，如此可讓受試者100可將標籤置於任一位置上，而該紀錄模組12係以畫素為單位來紀錄該標籤所在位置，具體實施時，最左端為原點計為0px，而標籤被拖曳至該量尺某一位置，可紀錄該落點距離原點之相對畫素，例如300px。前述透過畫素來紀錄僅為一紀錄落點相關資訊之方法，但並非侷限，例如可將該量尺設計為隱藏刻度的連續軸進行紀錄，因此，只要可紀錄標籤在量尺上位置方法即可，前述畫素僅為一實施方式。
    此外，為了避免不同標籤在量尺位置重疊或過於接近，作答模組11會針對兩標籤間位置進行判斷以避免標籤接近而無法分辨，而所謂重疊可依據需求進一步設定，例如10px的距離在視覺上已難以辨識兩標籤間的位置差異，因而，若有一標籤係座落在281px上，則另一標籤其落點則無法在271px~291px的位置，因而作答模組11會提供如對話視窗之警示訊息告知受試者100，以要求受試者100重新作答，如此，受試者100無法將多個標籤移至相同或相近的位置，可避免對應敘述選項標籤之強度值太過近似而無法進行後續分析。
    其次，請參閱第2圖，係說明本發明所述採用自比量尺之測驗系統之一實施例的量尺與標籤之示意圖。於該圖中，量尺20上具有複數個標籤21，量尺為無刻度的連續軸，以避免受試者刻意使標籤21產生特定距離，各標籤21係對應欲測驗試題內之複數選項之一，受試者可移動該些標籤21至該量尺20上適當位置，如此而完成測驗。
    其次配合前述第1、2圖所示採用自比量尺之測驗系統，以下說明本發明採用自比量尺之測驗方法之步驟流程圖，如第3圖所示。
    於步驟S301中，係產生具有題目、量尺及位於該量尺上之複數標籤之測驗試題。受試者進行測驗時，所提供之測驗試題會有試題題目，以及可供操作的量尺及複數標籤，該些複數標籤係位於該量尺上且對應該測驗試題內的敘述選項，也就是說，受試者透過該標籤在量尺上位置以表示受試者之選擇。接著進至步驟S302。
    於該步驟S302中，係依據該題目將各該標籤移動至該量尺上對應之位置。詳細來說，受試者可透過拖曳方式將該些標籤在該量尺上作移動，通常量尺左端可設為低程度或低意願，相反地，量尺右端為高程度或高意願，受試者判斷對應敘述選項之各標籤在受試者心中影響程度而將標籤移至適當位置。此外，該步驟S302復包括於各該標籤之位置在一預定距離內而提供警示訊息。也就是，受試者可能將全部標籤移至相同位置，造成無法分辨出前後順序或程度高低，因而當標籤被移動至離另一標籤一定距離內時，則會發出警示訊息以告知受試者，該警示訊息可為對話框、聲音或強制退回前一步驟等。且步驟S302中亦可使各該標籤於該量尺上對應之位置無法重疊。接著進至步驟S303。
    於該步驟S303中，係紀錄各該標籤於該量尺上所對應之位置以成為各該標籤之落點資訊。在受試者完成該測驗試題後，會將各該標籤在量尺上位置加以紀錄以成為落點資訊，並供後續比較分析。
    其中，該落點資訊係包括紀錄各該標籤於該量尺所在位置之座標資料，以及紀錄各該標籤先後順序之次序資料。雖然該量尺在測驗過程為一無刻度的連續軸，但可透過如畫素為單位的方式，來表示該標籤所在位置而成為該座標資訊，此外，同時會紀錄該些標籤的順序以作為後續分析之用。接著進至步驟S304。
    於該步驟S304中，係分析該些落點資訊，以用於比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題之各該標籤之間的關聯性。詳細來說，各標籤之落點資訊將被分析以得到對受試者的選擇差異，其中，可計算任一標籤的落點資訊，藉此得到該標籤於該測驗試題之強度值，最後，再透過各該標籤的強度大小來進行對受試者影響大小的分析。
    因此，該步驟S304復包括依據各該標籤之強度值以進行後續對應各標籤之敘述選項對於受試者的影響的分析，即前述之關聯性係指依據各該標籤之強度值分析，可用於單一受試者對於測驗試題中各敘述選項的強度比較，以得到各該標籤對該單一受試者的強度關係，或者是用於對多位受試者對同一測驗試題之同一敘述選項的強度比較，以得到同一標籤於該些不同受試者間的強度關係。
    由上述說明可知，透過本發明之自比量尺之測驗方法，不僅讓測驗結果可分析出各敘述選項對於單一受試者的影響度，更可用於同一敘述選項對於多位受試者之間的強度大小，此為現行各種測驗方法難以同時提供。
    請參閱第4A-4C圖，係採用自比量尺之測驗系統所產生之問卷題目及作答紀錄的示意圖。如第4A圖所示，在測驗試題中，受試者須將5個敘述選項42進行喜好程度的選擇，而每一個敘述選項42係對應量尺40上之各標籤41，這裡所示的量尺為無刻度的連續軸，受試者可拖曳該些標籤41到量尺40上適當位置，如此，系統將會紀錄各標籤41所在相關資訊，以進行後續計算分析，如此不僅可分析出受試者對各敘述選項42的喜好強度，且於多人同時測驗後，可將多人對單一敘述選項42的強度值作比較，而避免像習知之自陳量表可能可造假情況，或者是習知之自比式試題無法分析出多人對同一選項的強度大小。
    於第4B圖中，係說明受試者對於測驗試題1和測驗試題2的作答紀錄，其針對甲至戊五種潛在特質而提供測驗試題1、2產生不同測驗選項內容，經測驗後，系統可將受試者的作答結果紀錄並計算各特質得分，例如受試者在測驗試題1對看電影作答記錄為863px，在測驗試題2對看DVD的作答記錄為913px，而此兩標籤同屬於潛在特質甲(影視欣賞)，故潛在特質甲的平均得分為888，如此可比較受試者對於各潛在各特質間喜好程度的高低。
    另外，於第4C圖係表示兩位受試者的作答紀錄，其中，球類運動對兩位受試者A、B來說為排名第三高的喜好程度，但是受試者B作答球類運動的分數為807px優於受試者A的651px，因而可解釋受試者B喜愛球類運動的程度高於受試者A。故透過本發明之自比量尺之測驗系統及其方法，受試者測驗得到所分數不僅用於受試者的內比較，亦能夠說明受試者間程度差異。
    綜上所述，本發明之採用自比量尺之測驗系統及其方法，係利用自陳量表及自比式試題兩者之特性的結合，而提供更具參考價值之測驗結果的測驗系統，其中，受試者僅需在量尺上移動對應敘述選項之標籤其位置，這樣受試者需決定各敘述選項次序，避免讓所有敘述選項皆走強測驗內容而容易有作假嫌疑，同時，透過敘述選項之座標位置可供多位受試者對於同一敘述選項進行強度比較，換言之，可提供受試者本身或受試者之間對測試結果進行分析，使得測驗結果有意義且有助於得知受試者的特質。
    上述實施形態僅例示性說明本發明之原理及其功效，而非用於限制本發明。任何熟習此項技藝之人士均可在不違背本發明之精神及範疇下，對上述實施形態進行修飾與改變。因此，本發明之權利保護範圍，應如後述之申請專利範圍所列。
    1．．．採用自比量尺之測驗系統
    10．．．試題模組
    11．．．作答模組
    12．．．紀錄模組
    13．．．分析模組
    20、40．．．量尺
    21、41．．．標籤
    42．．．敘述選項
    100．．．受試者
    S301~S304．．．步驟
    第1圖係本發明採用自比量尺之測驗系統之系統架構圖；
    第2圖係本發明所述採用自比量尺之測驗系統之一實施例的量尺與標籤之示意圖；
    第3圖係本發明採用自比量尺之測驗方法之步驟流程圖；
    第4A至4C圖係採用自比量尺之測驗系統所產生之問卷題目及作答紀錄的示意圖；
    第5A圖係說明採用李克特氏自陳量表之問卷題目的示意圖；以及
    第5B及5C圖係說明採用自比式試題之問卷題目的示意圖。
    1．．．採用自比量尺之測驗系統
    10．．．試題模組
    11．．．作答模組
    12．．．紀錄模組
    13．．．分析模組
    100．．．受試者
    权利要求:
    Claims (13)
    [1] 一種採用自比量尺之測驗系統，係包括：試題模組，係用於產生測驗試題，而該測驗試題具有題目、一量尺及位於該量尺上之複數標籤；作答模組，係用於提供該複數標籤在該量尺上移動，以由受試者依據該題目移動各該標籤至該量尺上對應之位置；以及紀錄模組，係用於紀錄各該標籤於該量尺上所對應之位置而成為落點資訊，其中，該落點資訊係用以比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題之各該標籤之間的關聯性。
    [2] 如申請專利範圍第1項所述之採用自比量尺之測驗系統，其中，該測驗試題內包括複數不同敘述選項，而各該標籤係對應該些敘述選項。
    [3] 如申請專利範圍第1項所述之採用自比量尺之測驗系統，其中，該量尺為不含刻度之連續軸，且該紀錄模組係以畫素為單位來紀錄該標籤之該落點資訊。
    [4] 如申請專利範圍第1項所述之採用自比量尺之測驗系統，其中，該落點資訊係包括紀錄各該標籤於該量尺上所在位置之座標資料以及紀錄各該標籤間先後順序之次序資料。
    [5] 如申請專利範圍第1項所述之採用自比量尺之測驗系統，復包括分析模組，係用於計算任一標籤的落點資訊，以得到該標籤於該測驗試題之強度值。
    [6] 如申請專利範圍第5項所述之採用自比量尺之測驗系統，其中，該關聯性係指該分析模組依據各該標籤之強度值產生各該標籤對該單一受試者的強度關係，以及同一標籤於該些不同受試者間的強度關係。
    [7] 如申請專利範圍第1項所述之採用自比量尺之測驗系統，其中，該作答模組係於各該標籤之位置在一預定距離內而提供警示訊息，且其中，各該標籤於該量尺上對應之位置無法重疊。
    [8] 一種採用自比量尺之測驗方法，係包括以下步驟：(1)產生具有題目、一量尺及位於該量尺上之複數標籤之測驗試題；(2)依據該題目將各該標籤移動至該量尺上對應之位置；(3)紀錄各該標籤於該量尺上所對應之位置以成為各該標籤之落點資訊；以及(4)分析該些落點資訊，以用於比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題之各該標籤之間的關聯性。
    [9] 如申請專利範圍第8項所述之採用自比量尺之測驗方法，其中，該落點資訊係包括紀錄各該標籤於該量尺上所在位置之座標資料以及紀錄各該標籤間先後順序之次序資料。
    [10] 如申請專利範圍第9項所述之採用自比量尺之測驗方法，其中，該量尺為不含刻度之連續軸，且該座標資料係以畫素為單位來表示該標籤所在位置。
    [11] 如申請專利範圍第8項所述之採用自比量尺之測驗方法，其中，該步驟(4)復包括計算任一標籤的落點資訊，以得到該標籤於該測驗試題之強度值。
    [12] 如申請專利範圍第11項所述之採用自比量尺之測驗方法，其中，該關聯性係指藉由各該標籤之強度值得到各該標籤對該單一受試者的強度關係，以及同一標籤於該些不同受試者間的強度關係。
    [13] 如申請專利範圍第8項所述之採用自比量尺之測驗方法，其中，該步驟(2)復包括於各該標籤之位置在一預定距離內而提供警示訊息，並使各該標籤於該量尺上對應之位置無法重疊。
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