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    一種測試系統包括，一顯示裝置、一快門眼鏡以及一測試裝置。顯示裝置產生一同步信號，並輸出一時序信號。時序信號與同步信號有關。快門眼鏡接收同步信號，用以產生一遮蔽信號。測試裝置根據一設定信號，處理時序信號以及遮蔽信號，並根據處理結果，判斷快門眼鏡是否正常。
    公开号:TW201303316A
    申请号:TW100123622
    申请日:2011-07-05
    公开日:2013-01-16
    发明作者:Chih-Li Wang；Ming-Jen Chan；Yi-Cheng Lee
    申请人:Wistron Corp；
    IPC主号:H04N13-00
    专利说明:
    測試架構、方法及系統
    本發明係有關於一種測試架構、方法及系統，特別是有關於一種測試快門眼鏡是否正常的測試架構、方法及系統。
    隨著科技的進步，顯示器的種類也愈來愈多。從早期的黑白電視到彩色電視，到現在的高畫質電視，都是為了提供自然、逼真的影像品質。在眾多的顯示器中，3D立體顯示器除了一般的影像與色彩外，更可提供了立體空間的視覺感受。
    一般常見的立體影像顯示器大部份是配合一特殊眼鏡。眼鏡基本上又可分為，主動式眼鏡(active glasses)以及被動式眼鏡(passive glasses)。主動式眼鏡一般又稱為快門眼鏡(shutter glasses)。由於快門眼鏡的殘影少，故較常被使用。
    為了確保快門眼鏡的良率，在出廠前，測試人員會對快門眼鏡進行測試。在習知的測試過程中，測試人員戴上快門眼鏡，以人眼觀察的方式，判斷快門眼鏡是否運作正常。然而，人工目視方法無法有效且快速地檢驗快門眼鏡的品質。
    本發明提供一種測試架構，用以測試一快門眼鏡。測試架構包括一顯示裝置以及一測試裝置。顯示裝置產生一同步信號，並輸出一時序信號。時序信號與同步信號有關，快門眼鏡接收同步信號，用以產生一遮蔽信號。測試裝置根據一設定信號，處理時序信號以及遮蔽信號，並根據處理結果，判斷快門眼鏡是否正常。
    本發明另提供一種測試方法，用以測試一快門眼鏡。本發明之測試方法包括：產生一同步信號以及一時序信號，其中該時序信號與該同步信號有關，該快門眼鏡接收該同步信號，用以產生一遮蔽信號；根據一設定信號，處理該時序信號以及該遮蔽信號；以及根據處理結果，判斷該快門眼鏡是否正常。
    本發明提供一種測試系統，包括一顯示裝置、一快門眼鏡以及一測試裝置。顯示裝置產生一同步信號，並輸出一時序信號。時序信號與同步信號有關。快門眼鏡接收同步信號，用以產生一遮蔽信號。測試裝置根據一設定信號，處理時序信號以及遮蔽信號，並根據處理結果，判斷快門眼鏡是否正常。
    為讓本發明之特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉出本發明之實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：
    第1圖為本發明之測試系統之示意圖。如圖所示，測試系統10包括一測試架構100以及一快門眼鏡130。測試架構100係用以測試快門眼鏡130是否正常。在一可能實施例中，測試系統10僅僅用以判斷快門眼鏡130是否正常。在另一可能實施例中，測試系統10更可在快門眼鏡130發生不正常時，得知不正常所在處，並根據不正常狀態修復快門眼鏡130。以下將說明測試系統10的動作原理。
    在本實施例中，測試架構100包括一顯示裝置110以及一測試裝置150。顯示裝置110產生一同步信號SSyn，並輸出一時序信號SC，其中時序信號SC與同步信號SSyn有關。在一可能實施例中，時序信號SC等於同步信號SSyn。另外，本發明並不限定顯示裝置110的種類。在一可能實施例中，顯示裝置110可為一電腦螢幕、一筆記型電腦或是一電視。
    快門眼鏡130接收同步信號SSyn，用以產生一遮蔽信號SM。在本實施例中，快門眼鏡130係以無線方式，接收同步信號SSyn。本發明並不限定同步信號SSyn的種類。在一可能實施例中，同步信號SSyn係為一紅外線(IR)信號或是一射頻(RF)信號。
    測試裝置150根據一設定信號SSET，處理時序信號SC以及遮蔽信號SM，並根據處理結果，判斷快門眼鏡130是否正常。舉例而言，當處理後的時序信號與處理後的遮蔽信號之間不具有時間差時，表示快門眼鏡130正常。當處理後的時序信號與處理後的遮蔽信號之間具有時間差時，表示快門眼鏡130不正常。
    由於不同顯示裝置及不同快門眼鏡各自具有不同的延遲時間(受面板特性與內部走線(track)影響)，因而造成顯示裝置及快門眼鏡會延遲一段時間後，才輸出時序信號SC以及遮蔽信號SM。因此，若直接將顯示裝置及快門眼鏡所輸出時序信號SC以及遮蔽信號SM相比較，而不考慮顯示裝置及快門眼鏡的延遲時間時，將容易發生誤判。
    因此，在本實施例中，測試裝置150儲存不同顯示裝置及不同快門眼鏡的參數(如延遲時間、處理時間)，並根據設定信號SSET，擷取對應於顯示裝置110與快門眼鏡130的參數，再利用擷取到的參數，處理時序信號SC以及遮蔽信號SM，用以排除顯示裝置110與快門眼鏡130的延遲時間所造成的影響。在一可能實施例中，測試裝置150將處理後的時序信號與處理後的遮蔽信號相比較，並根據比較結果，判斷快門眼鏡130是否正常。另外，測試裝置150得知快門眼鏡130不正常時，測試裝置150更可依據比較結果，得知不正常所在，如硬體結構或是軟體結構發生不正常，並修復快門眼鏡130。
    舉例而言，當測試裝置150得知快門眼鏡130不正常時，測試裝置150控制快門眼鏡130(如快門眼鏡130內部的ROM的程式碼)，用以調整遮蔽信號SM，直到處理後的遮蔽信號與處理後的時序信號之間不具有時間差。
    在本實施例中，測試裝置150係分別透過傳輸線171與172，接收時序信號SC與遮蔽信號SM。本發明並不限定傳輸線171與172的種類。在一可能實施例中，傳輸線171與172係為通用序列匯流排(USB)傳輸線。在其它可能實施例中，測試裝置150係以無線方式，接收時序信號SC與遮蔽信號SM。
    再者，本發明並不限定顯示裝置110、快門眼鏡130以及測試裝置150的內部結構。只要是能夠達到上述功能的裝置，均可作為顯示裝置110、快門眼鏡130以及測試裝置150。
    第2圖為顯示裝置之一可能實施例。在本實施例中，顯示裝置110包括，一時序控制器(timing controller；T-CON)111、一驅動晶片(driving IC)113、一面板(panel)115以及一無線發射模組117。
    時序控制器111根據一時脈信號SCLK，產生一時序信號SC以及一驅動信號SD。驅動信號SD用以驅動驅動晶片113。在一可能實施例中，時序信號SC等於驅動信號SD。
    在本實施例中，時序控制器111分別透過兩介面(未顯示)，接收時脈信號SCLK以及輸出時序信號SC。本發明並不限定兩介面的種類。在一可能實施例中，輸出時序信號SC的介面係為一通用序列匯流排(USB)介面。在另一可能實施例中，時脈信號SCLK係由測試裝置150所提供，但並非用以限制本發明。
    驅動晶片113根據驅動信號SD，控制面板115，使其呈現畫面。此時，時序控制器111控制無線發射模組117，使其輸出同步信號SSyn。本發明並不限定無線發射模組117的種類。在一可能實施例中，無線發射模組117係為一紅外線(IR)發射器或是一射頻(RF)發射器。
    另外，在本實施例中，時序控制器111所產生的時序信號SC係提供予測試裝置150，使其判斷快門眼鏡130是否正常，但此揭露並非用以限制本發明。在其它實施例中，只要是與同步信號SSyn有關的信號，均可提供予測試裝置150，使其判斷快門眼鏡130是否正常。
    舉例而言，若顯示裝置110係為一電腦架構時，則測試裝置150可根據繪圖處理晶片(Graphic Processing Unit；GPU)所產生的信號，判斷快門眼鏡130是否正常；若顯示裝置110係為一電視架構時，則測試裝置150可根據Scalar晶片所產生的信號，判斷快門眼鏡130是否正常。
    第3圖為快門眼鏡之一可能實施例。在本實施例中，快門眼鏡130包括，一無線接收模組131、一微處理器133、一右眼液晶135、一左眼液晶137以及一介面139，但此揭露並非用以限制本發明。只要是能夠根據一顯示裝置所提供的同步信號，產生一遮蔽信號，用以控制右眼液晶135以及左眼液晶137的電路結構，均可作為上述快門眼鏡130。
    無線接收模組131接收顯示裝置110所提供的同步信號SSyn，並將同步信號SSyn提供予微處理器133。微處理器133根據同步信號SSyn，交錯地使右眼液晶135以及左眼液晶137為透明狀態。
    在本實施例中，右眼液晶135以及左眼液晶137均具有兩種狀態，一是透明狀態，另一是不透明狀態。當右眼液晶135為透明狀態時，則左眼液晶137為不透明狀態。相反地，當左眼液晶137為透明狀態時，則右眼液晶135為不透明狀態。藉由控制右眼液晶135以及左眼液晶137的狀態，便可讓使用者的左右眼分別看到不同的畫面，因而得到立體的視覺效果。
    在本實施例中，微處理器133透過介面139，輸出一遮蔽信號SM。在另一可能實施例中，微處理器133可透過介面139，接收一控制信號(未顯示)，並根據該控制信號，調整遮蔽信號SM。本發明並不限定介面139的種類。在一可能實施例中，介面139係為一USB介面。在其它實施例中，快門眼鏡130更具有一充電電池(未顯示)，其係透過介面139接收一充電電源。
    第4圖為本發明之測試裝置之一可能實施例。在本實施例中，測試裝置150包括一資料庫151以及一微處理器153。資料庫151儲存複數顯示裝置的參數以及複數快門眼鏡的參數。在一可能實施例中，資料庫151係儲存在一記憶裝置中。
    微處理器153根據設定信號SSET，從資料庫151中，擷取對應於顯示裝置110的參數以及對應快門眼鏡130的參數，並根據擷取後的結果，處理時序信號SC以及遮蔽信號SM。由於資料庫151所記錄的參數與顯示裝置110以及快門眼鏡130本身所具有的延遲時間有關，故當微處理器153根據資料庫151的資料，處理時序信號SC以及遮蔽信號SM後，便可克服延遲時間所造成的影響。
    本發明並不限定微處理器153如何處理時序信號SC以及遮蔽信號SM。假設，微處理器153根據設定信號SSET，從資料庫151中，擷取對應於顯示裝置110的一第一延遲時間參數以及對應快門眼鏡130的一第二延遲時間參數。在一可能實施例中，微處理器153根據第一延遲時間參數，延遲時序信號SC，用以產生一第一處理結果，並根據第二延遲時間參數，延遲遮蔽信號SM，用以產生一第二處理結果。
    在本實施例中，微處理器153比較第一及第二處理結果，便可得知快門眼鏡130是否正常。舉例而言，若第一及第二處理結果間不具有時間差，則表示快門眼鏡130正常。相反地，若第一及第二處理結果間具有時間差，則表示快門眼鏡130不正常。
    當微處理器153判斷出快門眼鏡130不正常時，微處理器153可提供一控制信號SCON予快門眼鏡130，用以調整快門眼鏡130所產生的遮蔽信號SM。
    在一可能實施例中，測試裝置150可自動地偵測顯示裝置110與快門眼鏡130的種類，其中偵測結果即為設定信號SSET。在另一可能實施例中，設定信號SSET係由測試人員所輸入。測試人員可根據顯示裝置110與快門眼鏡130的廠牌或是型號，輸入設定信號SSET。另外，測試人員亦可藉由設定信號SSET，令微處理器153新增、刪除或修改資料庫151的資料。
    第5A圖為時序信號SC以及遮蔽信號SM在處理前的一可能示意圖。如圖所示，時序信號SC以及遮蔽信號SM之間具有一時間差TD。時間差TD可能是因顯示裝置110及/或快門眼鏡130的面板特性或內部走線所產生。當時間差TD存在於時序信號SC以及遮蔽信號SM之間時，測試裝置150便無法正確判斷出快門眼鏡130是否正常。
    為了克服顯示裝置110及快門眼鏡130的內部延遲時間所造成的影響，測試裝置150根據顯示裝置110及快門眼鏡130的時間延遲參數，處理時序信號SC以及遮蔽信號SM，處理後的結果如第5B圖所示。由於處理後的時序信號SC以及遮蔽信號SM不具有時間差，故表示快門眼鏡130正常。相反地，若處理後的時序信號SC以及遮蔽信號SM具時間差時，表示快門眼鏡130不正常。
    在一可能實施例中，測試裝置150可根據處理後的時序信號SC以及遮蔽信號SM，判斷出快門眼鏡130內部的哪個控制端不正常。舉例而言，若處理後的遮蔽信號SM的奇數脈衝不同於處理後的時序信號SC的奇數脈衝，則表示快門眼鏡130的右眼液晶135的控制時序不正常。因此，測試裝置150提供相對應的控制信號予快門眼鏡130，使其輸出正確的遮蔽信號SM。
    舉例而言(請參考第3及4圖)，當快門眼鏡130不正常時，測試裝置150產生一控制信號SCON予快門眼鏡130，使得微處理器133重新控制右眼液晶135以及左眼液晶137，用以重新調整遮蔽信號SM。測試裝置150再處理新的遮蔽信號SM，並判斷處理後的遮蔽信號SM與處理後的時序信號SC之間是否具有時間差。若具有時間差，測試裝置150會再次產生控制信號SCON，用以再次調整遮蔽信號SM，直到遮蔽信號SM與處理後的時序信號SC之間不具有時間差。
    由於本發明之測試系統並非以人工目視方式判斷快門眼鏡正常與否，故可大幅提高準確度，並可縮短測試時間。再者，測試系統除了具有測試功能，更可依據不正常所在處，修復快門眼鏡，故可減少維修人員除錯(debug)時間。
    第6圖為本發明之測試方法之一可能實施例。本發明之測試方法用以測試一快門眼鏡。首先，產生一同步信號以及一時序信號(步驟S610)。在一可能實施例中，同步信號以及時序信號係由一顯示裝置所產生。在本實施例中，時序信號與同步信號有關。舉例而言，同步信號可能等於時序信號。另外，本發明並不限定同步信號SSyn的種類。在一可能實施例中，同步信號SSyn係為一紅外線(IR)信號或是一射頻(RF)信號。
    快門眼鏡接收到同步信號後，將產生一遮蔽信號。接著，根據一設定信號，處理時序信號以及遮蔽信號(步驟S630)。在一可能實施例中，藉由該設定信號，便可由一資料庫中，擷取出對應於顯示裝置的一第一延遲時間參數以及對應快門眼鏡的一第二延遲時間參數。藉由處理第一延遲時間參數以及時序信號，便可得到一第一處理結果。另外，藉由處理第二延遲時間參數以及遮蔽信號，便可得到一第二處理結果。
    本發明並不限定第一及第二處理結果的產生方式。在一可能實施例中，根據第一延遲時間參數，延遲時序信號，便可得到第一處理結果。另外，根據第二延遲時間參數，延遲遮蔽信號，便可得到第二處理結果。
    接著，根據處理結果，判斷快門眼鏡是否正常(步驟S650)。在一可能實施例中，若步驟S630所得到的該第一及第二處理結果之間不具有時間差時，則表示快門眼鏡正常。若該第一及第二處理結果之間具有時間差時，則表示快門眼鏡不正常。
    在其它實施例中，當該快門眼鏡不正常時，可根據步驟S630所產生的處理結果，修復快門眼鏡。在一可能實施例中，可提供一控制信號予快門眼鏡，用以調整快門眼鏡所產生的遮蔽信號，再根據該設定信號，處理該時序信號以及調整後的遮蔽信號，並根據處理結果，判斷快門眼鏡是否正常，直到快門眼鏡正常。
    雖然本發明之各項實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
    10．．．測試系統
    110．．．顯示裝置
    130．．．快門眼鏡
    150．．．測試裝置
    171、172．．．傳輸線
    111．．．時序控制器
    113．．．驅動晶片
    115．．．面板
    117．．．無線發射模組
    131．．．無線接收模組
    133、153．．．微處理器
    135．．．右眼液晶
    137．．．左眼液晶
    139．．．介面
    151．．．資料庫
    100．．．測試架構
    SC．．．時序信號
    SSET．．．設定信號
    SM．．．遮蔽信號
    SCLK．．．時脈信號
    SD．．．驅動信號
    SCON．．．控制信號
    TD．．．時間差
    SSyn．．．同步信號
    S610-S650．．．步驟
    第1圖為本發明之測試系統之示意圖。
    第2圖為顯示裝置之一可能實施例。
    第3圖為快門眼鏡之一可能實施例。
    第4圖為本發明之測試裝置之一可能實施例。
    第5A圖為時序信號SC以及遮蔽信號SM在處理前的一可能示意圖。
    第5B圖為時序信號SC以及遮蔽信號SM在處理後的一可能示意圖。
    第6圖為本發明之測試方法之一可能實施例。
    10．．．測試系統
    100．．．測試架構
    110．．．顯示裝置
    130．．．快門眼鏡
    150．．．測試裝置
    171、172．．．傳輸線
    SSyn．．．同步信號
    SSET．．．設定信號
    SC．．．時序信號
    SM．．．遮蔽信號
    权利要求:
    Claims (32)
    [1] 一種測試架構，用以測試一快門眼鏡，該測試架構包括：一顯示裝置，產生一同步信號，並輸出一時序信號，該時序信號與該同步信號有關，其中該快門眼鏡接收該同步信號，用以產生一遮蔽信號；以及一測試裝置，根據一設定信號，處理該時序信號以及該遮蔽信號，並根據處理結果，判斷該快門眼鏡是否正常。
    [2] 如申請專利範圍第1項所述之測試架構，其中該測試裝置分別透過一第一介面以及一第二介面，接收該時序信號以及該遮蔽信號。
    [3] 如申請專利範圍第2項所述之測試架構，其中該第一及第二介面均為一通用序列匯流排(USB)介面。
    [4] 如申請專利範圍第1項所述之測試架構，其中該顯示裝置具有一時序控制器，用以產生該時序信號。
    [5] 如申請專利範圍第4項所述之測試架構，其中該時序控制器根據一輸入時脈，產生該時序信號，該輸入時脈係由該測試裝置所提供。
    [6] 如申請專利範圍第1項所述之測試架構，其中該顯示裝置具有一無線發射模組，用以發射該同步信號，該快門眼鏡具有一無線接收模組，用以接收該同步信號。
    [7] 如申請專利範圍第6項所述之測試架構，其中該無線發射模組係為一紅外線(IR)發射器或是一射頻(RF)發射器。
    [8] 如申請專利範圍第1項所述之測試架構，其中該測試裝置包括：一資料庫，儲存複數顯示裝置的參數以及複數快門眼鏡的參數；以及一微處理器，根據該設定信號，從該資料庫中，擷取對應於該顯示裝置的一第一延遲時間參數以及對應該快門眼鏡的一第二延遲時間參數，並根據擷取後的結果，處理該時序信號以及該遮蔽信號。
    [9] 如申請專利範圍第8所述之測試架構，其中該微處理器將該時序信號加上該第一延遲時間參數，用以產生一第一處理結果，該微處理器將該遮蔽信號加上該第二延遲時間參數，用以產生一第二處理結果。
    [10] 如申請專利範圍第9所述之測試架構，其中當該第一及第二處理結果之間不具有時間差時，表示該快門眼鏡正常，當該第一及第二處理結果之間具有時間差時，表示該快門眼鏡不正常。
    [11] 如申請專利範圍第10項所述之測試架構，其中當該快門眼鏡不正常時，該測試裝置控制該快門眼鏡，用以調整該遮蔽信號。
    [12] 一種測試方法，用以測試一快門眼鏡，該測試方法包括：產生一同步信號以及一時序信號，其中該時序信號與該同步信號有關，該快門眼鏡接收該同步信號，用以產生一遮蔽信號；根據一設定信號，處理該時序信號以及該遮蔽信號；以及根據處理結果，判斷該快門眼鏡是否正常。
    [13] 如申請專利範圍第12項所述之測試方法，其中該同步信號等於該時序信號。
    [14] 如申請專利範圍第12項所述之測試方法，其中該同步信號以及該時序信號係由一顯示裝置所產生。
    [15] 如申請專利範圍第14項所述之測試方法，其中處理該時序信號以及該遮蔽信號的步驟包括：根據該設定信號，從該資料庫中，擷取對應於該顯示裝置的一第一延遲時間參數以及對應該快門眼鏡的一第二延遲時間參數；處理該時序信號及該第一延遲時間參數，用以產生一第一處理結果；以及處理該遮蔽信號及該第二延遲時間參數，用以產生一第二處理結果。
    [16] 如申請專利範圍第15項所述之測試方法，其中根據該第一延遲時間參數，延遲該時序信號，用以產生該第一處理結果。
    [17] 如申請專利範圍第16項所述之測試方法，其中根據該第二延遲時間參數，延遲該遮蔽信號，用以產生該第二處理結果。
    [18] 如申請專利範圍第17所述之測試方法，更包括：比較該第一及第二處理結果；當該第一及第二處理結果之間不具有時間差時，表示該快門眼鏡正常；以及當該第一及第二處理結果之間具有時間差時，表示該快門眼鏡不正常。
    [19] 如申請專利範圍第12項所述之測試方法，更包括：當該快門眼鏡不正常時，根據處理結果，修復該快門眼鏡。
    [20] 如申請專利範圍第19項所述之測試方法，其中修復該快門眼鏡的步驟包括：提供一控制信號予該快門眼鏡，用以調整該遮蔽信號；以及再次根據該設定信號，處理該時序信號以及調整後的該遮蔽信號，並根據處理結果，判斷該快門眼鏡是否正常。
    [21] 如申請專利範圍第12項所述之測試方法，其中該時序信號、該遮蔽信號及該同步信號均為無線信號。
    [22] 一種測試系統，包括：一顯示裝置，產生一同步信號，並輸出一時序信號，該時序信號與該同步信號有關；一快門眼鏡，接收該同步信號，用以產生一遮蔽信號；以及一測試裝置，根據一設定信號，處理該時序信號以及該遮蔽信號，並根據處理結果，判斷該快門眼鏡是否正常。
    [23] 如申請專利範圍第22項所述之測試系統，其中該測試裝置分別透過一第一介面以及一第二介面，接收該時序信號以及該遮蔽信號。
    [24] 如申請專利範圍第23項所述之測試系統，其中該第一及第二介面均為一通用序列匯流排(USB)介面。
    [25] 如申請專利範圍第22項所述之測試系統，其中該顯示裝置具有一時序控制器，用以產生該時序信號。
    [26] 如申請專利範圍第25項所述之測試系統，其中該時序控制器根據一輸入時脈，產生該時序信號，該輸入時脈係由該測試裝置所提供。
    [27] 如申請專利範圍第22項所述之測試系統，其中該顯示裝置具有一無線發射模組，用以發射該同步信號，該快門眼鏡具有一無線接收模組，用以接收該同步信號。
    [28] 如申請專利範圍第27項所述之測試系統，其中該無線發射模組係為一紅外線(IR)發射器或是一射頻(RF)發射器。
    [29] 如申請專利範圍第22項所述之測試系統，其中該測試裝置包括：一資料庫，儲存複數顯示裝置的參數以及複數快門眼鏡的參數；以及一微處理器，根據該設定信號，從該資料庫中，擷取對應於該顯示裝置的一第一時間延遲參數以及對應該快門眼鏡的一第二時間延遲參數，並根據第一及第二時間延遲參數，處理該時序信號以及該遮蔽信號。
    [30] 如申請專利範圍第29所述之測試系統，其中該微處理器根據該第一時間延遲，延遲該時序信號，用以產生第一處理結果，並根據該第二時間延遲，延遲該遮蔽信號，用以產生第二處理結果。
    [31] 如申請專利範圍第30所述之測試系統，其中當該第一及第二處理結果之間不具有時間差時，表示該快門眼鏡正常，當該第一及第二處理結果之間具有時間差時，表示該快門眼鏡不正常。
    [32] 如申請專利範圍第31項所述之測試系統，其中當該快門眼鏡不正常時，該測試裝置控制該快門眼鏡，用以調整該遮蔽信號。
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    同族专利:
    公开号 | 公开日
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    法律状态:
    2022-01-21| MM4A| Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees|
    优先权:
    申请号 | 申请日 | 专利标题
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    CN201110193466.4A| CN102868906B|2011-07-05|2011-07-12|测试架构、方法及系统|
    US13/526,172| US9148655B2|2011-07-05|2012-06-18|Testing structure, method and system for testing shutter glasses|
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