台湾专利TW201300798A 測試積體電路的裝置及方法

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专利摘要:
本發明的目的提供了一種測試方法。該方法包括：自電壓調節器供應電力供應至待測裝置(DUT)。待測裝置包括適性電壓調整模組，可相應電力供應產生回饋訊號。此外，該方法包括：接收自待測裝置至電壓調節器的回饋訊號，以根據來自待測裝置的回饋訊號調整電力供應，並於電壓調節器根據接收自待測裝置的回饋訊號調整提供待測裝置的電力供應時決定待測裝置是否達到特定的效能要求。
公开号:TW201300798A
申请号:TW101117245
申请日:2012-05-15
公开日:2013-01-01
发明作者:Ido Bourstein
申请人:Marvell World Trade Ltd；
IPC主号:G01R31-00

专利说明:
測試積體電路的裝置與方法相關申請案的相互參照
本案揭露的內容欲主張於2011年5月17日申請的美國第61/487,157號臨時專利申請案的優惠利益，該臨時專利申請案所揭露的整體內容併入於此以作為參考。
本發明係關於一種測試積體電路的裝置與方法。
此所述之背景內容之目的係一般性地表示本發明揭露內容之相關脈絡。就於此背景部分敘述之發明人的作品及此背景內容所述之範圍而言，不應表達或暗示性地被當作核駁本發明之先前技術，亦不適格作為申請時之先前技術。
一般而言，積體電路(IC)的檢測方法使用自動測試設備(ATE)和特定積體電路產品的轉接板以測試每個待測裝置(DUT)。在一個例子中，當製造一個產品時，每個封裝的IC裝置被插入到轉接板的插座上，且轉接板被適當地連接到ATE。然後，ATE經由轉接板測試封裝的IC裝置，並決定封裝IC元件是否滿足一個或多個指定的效能要求。例如，ATE發送測試訊號至封裝IC並經由轉接板接收來自封裝IC的回應訊號。
揭露的各方面提供了一種測試方法。方法包括：自電壓調節器供應電力供應至待測裝置(DUT)。待測裝置包括適性電壓調整模組，可相應電力供應產生回饋訊號。此外，該方法包括：接收自待測裝置傳送至電壓調節器的回饋訊號，以根據來自待測裝置的回饋訊號調整電力供應，並決定待測裝置是否達到特定的效能要求，同時電壓調節器根據接收自待測裝置的回饋訊號調整提供至待測裝置的電力供應。
在一個實施例中，回饋訊號根據待測裝置內的至少一電壓所產生。在另一實施例中，回饋訊號是根據待測裝置之至少一效能參數所產生。在又一實施例中，所述回饋訊號根據待測裝置內之一電壓與儲存於待測裝置內的目標電壓的比較所產生。
根據本揭露的一方面，該方法包括電壓調節器根據回饋訊號與回饋訊號目標的比較調整電力供應。
另外，在一個示例中，該方法包括將測試訊號發送到待測裝置，接收來自待測裝置的回應訊號，並根據回應訊號決定待測裝置是否滿足特定的效能要求。
本發明揭露了一種測試系統。測試系統包括一個電壓調節器，轉接板和測試器。的電壓調節器根據輸入訊號輸出電力供應。轉接板作為測試待測裝置。轉接板包括第一耦接器自電壓調節器供應電力至待測裝置。待測裝置包括適性電壓調整模組產生對應於電力供應的回饋訊號，轉接板包括第二耦接器提供自待測裝置提供回饋訊號作為輸入訊號到電壓調節器，根據回饋訊號調整供應到待測裝置的電力供應。測試器在電壓調節器根據回饋訊號調整電力供應時執行待測裝置功能測試。
本發明提供一種測試電路流程。方法包括從電壓調節器供應電力至電路。電路包括一個適性電壓調整模組，對應於電力供應產生回饋訊號。方法進一步包括從電路提供回饋訊號到電壓調節器以根據回饋訊號調整電力供應，並於電壓調節器根據接收自待測裝置的回饋訊號調整提供待測裝置的電力供應時決定電路是否滿足特定的性能要求。
圖1為本案揭露的實施例的測試系統100測試待測裝置130的方塊圖。測試系統100包含轉接板110及有一電壓調節器125之測試器120。這些元件耦接如圖1所示。
待測裝置(DUT)130可為任何合適的裝置，例如積體電路(IC)晶片、IC封裝裝置等等。待測裝置130包含連接端，可為任何合適的輸出入端，例如輸入端(IN)、輸出端(OUT)、電力端(VDD)、回饋端(FB)等。例如連接端包含IC晶片上的焊墊。在另一例中，連接端包含接腳網格陣列封裝(PGA)的接腳。在另一例中，連接端包含球網格封裝(BGA)的錫球。
根據揭露之一方面而言，VDD端係設置以接收外部電源之電力供應，且於操作時提供所接收電力至待測裝置130內的電路。FB端是供作為輸出回饋訊號以控制電力供應。在一實施例中，回饋訊號是根據待測裝置的表現而產生於待測裝置中。在一些實施例中，回饋訊號是類比訊號，而在一另些實施例中，回饋訊號是數位訊號。IN端是供接收輸入訊號，如測試訊號，且OUT端是供作為驅動輸出訊號，如回應訊號。在一實施例中，待測裝置的電路係利用輸入訊號是以產生作為表示效能的回饋訊號。須注意的是，在一例子中，待測裝置130包含其他適合的電力端(圖未示)，例如VSS端、接地端等。亦須注意的是，IN端及OUT端可為輸出入(I/O)端，作為IN端及/或OUT端。
根據揭露之一方面而言，待測裝置130包含適性電壓調整(AVS)模組140作為產生回饋訊號表示電力供應至待測裝置130的控制。在一實施例中，回饋訊號表示待測裝置130的表現且回饋訊號是用來控制電力供應，例如揭露於對應的申請案12/730,829，申請於2012年3月24日且讓與Marvell Israel(M.I.S.L.)有限公司。該申請案所揭露的整體內容併入於此以作為參考。
在一實施例中，回饋訊號由待測裝置130根據電路參數產生、控制及/或調整，例如電路運作時的效能參數、電壓目標等。在一實施例中，回饋訊號通常是供測試器120，特別是電壓調節器125使用，控制提供到待測裝置130的電力供應以補償在待測裝置130電路的各種變數，例如製程變數、供應電壓變數、溫度變數等。因為回饋是基於實際電路效能表現產生於待測裝置，所以在待測裝置130運作於所需方式的功率位準可精確地決定。
如在圖1的例子中，適性電壓調整模組140包含補償產生器143及加法器144。適性電壓調整模組140使用於適合類比及/或數位電路之實施例。在一例子中，補償產生器143產生補償訊號，例如補償電壓，且加法器144結合補償電壓與接收於待測裝置130表示電力供應的電壓以產生回饋訊號。
根據揭露之一方面而言，補償產生器143可根據來自待測裝置130電路提供的各種資訊產生補償電壓。在圖1的實施例中，補償產生器143接收自適性電壓調整標的142、效能監視器141的資訊，且接收於待測裝置130表示接收電力供應的電壓，例如揭露於對應的申請案12/979,724，申請於2010年12月28日且讓與Marvell Israel(M.I.S.L.)有限公司。該申請案所揭露的整體內容併入於此以作為參考。接著，補償產生器143基於所接收的資訊產生補償。
在一實施例中，適性電壓調整標的142包含儲存單元作為儲存一或多個電壓目標，且提供儲存電壓目標給補償產生器143。例如，適性電壓調整標的142包含記憶體供儲存對應於電壓目標的數位表述且提供數位表述給補償產生器143。在一例子中，補償產生器143包含數位轉類比轉換器(圖未示)作為轉換數位表述為類比形式的電壓目標。進一步，在一例子中，補償產生器143包含比較器(圖未示)作為比較電壓目標與接收自VDD端的供應電壓且根據比較產生補償電壓。加法器144結合補償電壓與接收的供應電壓以產生回饋訊號。
在另一實施例中，適性電壓調整標的142儲存對應於上限電壓目標的第一數位表述以及對應於下限電壓目標的第二數位表述。補償產生器143將第一數位表述及第二數位表述轉換為類比形式的上限電壓目標及下限電壓目標。再者，補償產生器143比較接收自VDD端的供應電壓與上限電壓目標及下限電壓目標並根據比較產生補償電壓。加法器144結合補償電壓與接收的供應電壓以產生回饋訊號。
在一實施例中，當接收的供應電壓大於電壓目標至一預設範圍，回饋訊號以測試器120減少供應電力的方式產生；當接收的供應電壓小於電壓目標至一預設範圍，回饋訊號以測試器120增加供應電力的方式產生。
在另一實施例中，適性電壓調整標的142包含上限電壓目標及下限電壓目標，定義為目標範圍。當接收供應電力大於上限電壓目標，回饋訊號以測試器120減少供應電力的方式產生。當接收的供應電壓小於下限電壓目標，回饋訊號以測試器120增加供應電力的方式產生。
在另一實施例中，效能監視器141包含一個或多個效能監視結構來監視一個或多個效能參數，且提供被監視的效能參數至補償產生器143。然後，補償產生器143產生要與接收的供應電壓結合的補償以產生測試器120回饋訊號。且造成可調整的供應電壓，因此待測裝置130達到效能。需注意的是待測裝置130也包含各種功能電路(圖未示)作為執行各種功能。
在一實施例中，待測裝置130是標示於產品說明，具有特定的電路速度。效能監視器141包含速度監視結構，例如振盪器等作為監視運作時的電路速度。然後，效能監視器141提供了一速度信息訊號，如類比訊號或數位訊號，代表補償產生器143的電路速度。補償產生器143接著根據速度信息訊號產生補償電壓。在一個例子中，當速度信息訊號表示的電路的速度相對較慢，補償產生器143以增加供應電壓的方式產生補償電壓而增加電路的速度，當速度信息訊號表示的電路速度相對較快而待測裝置130可能消耗太多電力，補償產生器143以減少供應電壓的方式產生補償電壓而減緩電路的速度並減少電力消耗。
根據揭露之一方面而言，待測裝置130和測試器120形成一個封閉的回饋迴路，其執行是基於產生在待測裝置130上且提供到測試器120的回饋訊號及來調整到待測裝置的供應電壓。需注意的是，回饋訊號可以是類比的或數位的。
在一實施例中，測試器120包括在電壓調節器125和控制器126。電壓調節器125提供且調節一個或多個到待測裝置130的電力供應，且控制器126作為提供測試訊號經轉接板110到待測裝置130，並經由轉接板110接收待測裝置130的回應訊號。基於回應訊號，控制器126決定待測裝置130是否通過或沒通過測試。
電壓調節器125係根據回饋訊號提供電力供應。在圖1之實施例中，電壓調節器125包括一個電力輸入接腳(Vin)，電力輸出接腳(Vout)和一個回饋訊號接腳(FEEDBACK)。電力輸入接腳接收輸入電力供應，例如來自在測試器120中的電力模組(圖未示)。電力輸出接腳根據接收自回饋訊號接腳上的回饋訊號，輸出電力供應。在一個實施例中，回饋訊號接腳具有相對高的輸入阻抗。
根據揭露之一方面而言，電壓調節器125係供根據產生於待測裝置130且由待測裝置130控制的回饋訊號來調節電力供應。當回饋訊號指出供應電壓是相對較低(例如，回饋訊號的電壓比供應電壓低，則待測裝置130太慢)，電壓調節器125增加輸出自電力輸出接腳的供應電壓，當回饋訊號指出供應電壓相對較高的(例如，回饋訊號的電壓比供應電壓高，則待測裝置130太快)，電壓調節器125降低輸出自電力輸出接腳的供應電壓。
在另一實施例中，在測試器120中的電壓調節器125包括作為接收目標電壓的目標接腳。在一個例子中，控制器126提供的目標電壓經由目標接腳到電壓調節器125，且回饋訊號接腳接收的回饋訊號有待測裝置130控制和調整的電壓準位。然後，電壓調節器125比較目標電壓的回饋訊號，並根據該比較來調節電力。
轉接板110提供在測試過程測試待測裝置130時耦接測試器120與待測裝置130適合的介面。在一個實施例中，轉接板110包括耦接有探針觸點之印刷電路。轉接板110連接待測裝置130至測試器120上所選的端點。在一個例子中，轉接板110被安裝於探針(圖未示)上，探針經合適的連接器連接到測試器120，合適的連接器如通用串列匯流排(USB)，外設互聯標準(PCI)，PCI儀器延伸(PXI)，區域網路(LAN)，通用介面匯流排標準(GPIB)等。另外，探針被適當地配置以壓迫轉接板110上之探針觸點與待測裝置130上的的IN，OUT的VDD和FB端電接觸。
在另一實施例中，轉接板110包括耦接插座的印刷電路。插座具有合適的接觸器，如接腳接觸器使接腳電接觸，錫球接觸配置，使錫球電接觸等。在一個例子中，轉接板110上安裝的處理器(圖未示)通過合適的連接器與測試器120連接，連接器如USB，PCI，PXI，LAN，GPIB，等。在測試時，待測裝置130插入插座，且插座的接觸器被迫與IN，OUT，VDD和FB端電接觸。
轉接板110，包含各種引線，如錫跡線，電線，電纜，帶狀電纜，跳線等，以及各種合適的電子元件，如電阻，電容，二極體，電晶體等，在待測裝置130和測試器120之間形成各種耦接，如傳導路徑，訊號線等。
根據本發明之一實施例，轉接板110包括一個耦接111為待測裝置130的VDD端與電壓調節器125的電力輸出接腳之介面，耦接112為FB端與電壓調節器125的回饋訊號接腳之介面，而耦接113和114為待測裝置130的IN端及OUT端與測試器120的介面。在一個例子中，耦接111包括相對大的寬度及/或厚度的印刷線，具有相對高的導電性，用於提供電力。在另一實例中，耦接112包括相對薄的印刷導線連接到具有相對高的輸入阻抗的電壓調節器125的回饋訊號接腳，使得沒有電流流過耦接112而耦接112上的電壓降基本上等於零。
根據揭露之一方面而言，在操作期間，待測裝置130的實際效能及/或提供電壓到給待測裝置130的電力電壓在待測裝置130上監視和決定，然後提供實際滿足所需效能的供應電壓。因此，可以容易確定滿足實際的效能要求(待測裝置130本身決定)所需的電壓供應。
根據揭露之一方面而言，測試系統100之電力供應係設置類似於客戶產品裝置應用的電力供應，如此的配置改善了測試覆蓋範圍和增加產品良率。
圖2為本案揭露的實施例的電子系統260的方塊圖。在一個例子中，電子系統260係被客戶使用通過各種試驗的設備加以實施。在圖2的例子中，電子系統260包括印刷電路板(PCB)265。各種組件，如一個電力模組262，一個電壓調節器261，系統單晶片(SOC)230，和其它電路263，均安裝在PCB 265上。這些元件相互耦接，如圖2所示。
根據揭露之一方面而言，SOC 230包括一個AVS模組240，且SOC 230作為一個待測裝置130由類似電子系統260之測試系統100(圖1)測試。當SOC 230通過由測試系統100施加的各種測試，SOC 230被認為是沒問題的裝置，且可以出售給客戶。然後，客戶在電子系統260中使用的SOC 230。
電子系統260可為任何合適的電子系統260。例如手機，筆記型電腦，桌上型電腦，網路開關，手持設備，數位照相機，印表機等。
在電子系統260中，電力模組262提供電子系統260的電力。在圖2的例子中，電力模組262經電壓調節器261提供電力至SOC 230。具體而言，電壓調節器261包括：一個電力輸入接腳作為接收從電力模組262的電力供應，電力輸出接腳作為輸出供應電壓至SOC 230，回饋訊號接腳作為接收由SOC 230根據在SOC 230在操作過程中的電路參數而產生的回饋訊號。電壓調節器261根據回饋訊號調整供應電壓。
在一實施例中，電壓調節器261包括特定針對電子系統260的目標電壓。電壓調節器261比較回饋訊號與目標電壓，並根據該比較調節從電力輸出接腳的供應電壓輸出。在一個例子中，電子系統260特定為工作在1V+/-5%之區間，且目標電壓設定為1V。
根據揭露之一方面而言，測試系統100的電力供應被配置為測試待測裝置130，其設置類似於在電子系統260的SOC 230的電力供應配置，這樣的配置改善了產品的良率。
在測試系統100中，在一例子中，電壓調節器125的目標電壓設定為1V。至待測裝置130的電壓供應是由待測裝置130本身根據電路操作控制。當待測裝置130通過由測試系統100的測試，待測裝置130被視為一個沒問題的設備，並可以出售給客戶，並用作SOC 230。
在一實施例中，具最低可操作的電壓為0.99V之待測裝置可能會造成使用對應最差電力供應狀況為0.95V之固定供應電壓時之速度測試之失敗，且因而被判斷為一個壞的裝置。
當此一待測裝置於測試系統100中作為待測裝置130進行測試時，供應電壓是由自待測裝置130本身根據在待測裝置電路中的實際運作效能的回饋所控制。在一個例子中，來自待測裝置130的回饋，控制供應電壓超過0.99V，因此待測裝置130可以通過測試系統100的測試而被視為良好的裝置。由於測試系統100的配置類似待測裝置130用於在電子系統中的配置，待測裝置130可視為可運作於在客戶的系統。
根據揭露之另一方面而言，由測試系統100執行於待測裝置130上之測試已改善測試覆蓋率。該測試不僅測試待測裝置130的功能電路(圖未示)，也對AVS 140的操作進行測試。AVS 140及功能電路均必須功能正常以通過測試。
根據揭露之另一方面而言，在測試系統100並不需要一個特定的供應電壓來測試的所有的待測裝置。在測試系統100中，每個待測裝置130基於在待測裝置130本身內的電路的操作控制供應電壓。因此，對於不同的待測裝置130，供應電壓可以不同。在一個實施例中，係對給定待測裝置為滿足效能要求所需的供應電壓進行監測，且每個待測裝置分別根據達到特定的效能要求所需的供應電壓進行分類或篩選。
圖3所示為為根據本案揭露的實施例之一流程圖，此流程圖說明了測試系統100測試待測裝置130的例示流程。過程開始於步驟S301中，然後進行到步驟S310。
在S310，在測試器120中的電壓調節器125提供供應電壓到待測裝置130。需注意的是，在一實施例中，電壓調節器125不是測試器120的一部分。在一個例子中，電壓調節器125是測試器120的外部。而在另一示例中，電壓調節器125被適當地安裝在轉接板110上。
在S320，待測裝置130被供電，設於待測裝置130的AVS模組140並根據在待測裝置130的電路運作產生的回饋訊號。在一個實施例中，回饋訊號代表了待測裝置130的效能量測且回饋訊號用於控制電力供應。在一例子中，回饋訊號是一個類比電壓訊號而回饋訊號的電壓位準用於控制供應電壓。在另一個例子中，回饋訊號是一個數位訊號，該數位訊號的數值被用來控制供應電壓。回饋訊號被驅送至待測裝置130外，且被提供至由電壓調節器125提供。
在S330，電壓調節器125根據回饋訊號調節供應電壓。在一實施例中，電壓調節器125比較回饋訊號及目標電壓的電壓準位，並根據該比較調整供應電壓。在另一個例子中，當回饋訊號是一個數位訊號時，電壓調節器根據數位訊號調整電源電壓。
在S340，在測試器120提供測試訊號至待測裝置130且接收來自待測裝置130的回應訊號。值得注意的是，在測試器120可以執行任何適當的測試，如功能測試，掃描測試等。
在S350，測試器120基於回應訊號及/或實際供應電壓決定待測裝置130的品質。在一個例子中，當在待測裝置130通過了所有的測試，測試器120決定待測裝置130是良好裝置；當待測裝置130的至少一個測試失敗時，測試器120決定該待測裝置130是一個不良裝置。在另一例子中，當供應電壓是在目標範圍內時，測試器120確定該待測裝置130是一個良好裝置，而當供應電壓是超出目標範圍外時，測試器120確定該待測裝置130是一個不良裝置。在另一個例子中，測試器120根據的實際的供應電壓區分待測裝置130。例如，當供應電壓是在一個相對高的電壓範圍內，測試器120將待測裝置130歸類為慢速，以及當供應電壓是在相對低的電壓範圍之內時，測試器120將待測裝置130歸類為快速。然後，處理前進到步驟S399並結束。
須注意的是，在一個示例中，步驟S310至S330係適性地且連續地執行於一個待測裝置130測試過程，以調整到待測裝置130之供應電壓，且在此同時，步驟S340是由測試器120執行以在待測裝置130進行各種上的測試，而步驟S350係在每次測試的最後進行。當測試器120決定待測裝置130未通過某一個測試或是待測裝置130通過了所有測試，測試過程將會停止。
雖然本案揭露的各種目的已由相關特定實施例加以描述，提出的例子可改變、修改及變化。同樣地，前述的實施例是描述而非限制。各種修改並不脫離下列申請專利範圍之內容。
110‧‧‧轉接板
120‧‧‧測試器
125‧‧‧電壓調節器
126‧‧‧控制器
130‧‧‧待測裝置
140‧‧‧適性電壓調整模組
141‧‧‧效能監視器
142‧‧‧適性電壓調整標的
143‧‧‧補償產生器
230‧‧‧系統單晶片
240‧‧‧適性電壓調整模組
261‧‧‧電壓調節器
262‧‧‧電力模組
263‧‧‧電路
265‧‧‧印刷電路板
本案揭露的各種實施例將以下列圖式詳細說明，其中相似元件符號為相似的元件，且：圖1為本案揭露的實施例的測試系統100的方塊圖；圖2為本案揭露的實施例的電子系統260的方塊圖；圖3為本案揭露的實施例，用來測試待測裝置130的測試系統100的製程300流程圖。
110‧‧‧轉接板
120‧‧‧測試器
125‧‧‧電壓調節器
126‧‧‧控制器
130‧‧‧待測裝置
140‧‧‧適性電壓調整模組
141‧‧‧效能監視器
142‧‧‧適性電壓調整標的
143‧‧‧補償產生器

权利要求:
Claims (20)
[1] 一種電子裝置的測試方法，包含：自一電壓調節器供應一電力供應至一待測裝置，該待測裝置包含一適性電壓調整模組，可相應該電力供應產生一回饋訊號；接收自該待測裝置至該電壓調節器的該回饋訊號，以根據來自該待測裝置的該回饋訊號調整該電力供應；以及當該電壓調節器根據自該待測裝置接收的該回饋訊號調整供應至該待測裝置之該電力供應時，決定該待測裝置是否符合一特定效能要求。
[2] 如申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中接收自該待測裝置至該電壓調節器的該回饋訊號，以根據來自該待測裝置的該回饋訊號調整該電力供應之步驟更包含：接收根據該待測裝置中之至少一電壓所產生之該回饋訊號。
[3] 如申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中接收自該待測裝置至該電壓調節器的該回饋訊號，以根據來自該待測裝置的該回饋訊號調整該電力供應之步驟更包含：接收該待測裝置之至少一效能參數所產生之該回饋訊號。
[4] 如申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中接收自該待測裝置至該電壓調節器的該回饋訊號，以根據來自該待測裝置的該回饋訊號調整該電力供應之步驟更包含：接收根據該待測裝置中之一電壓與儲存於該待測裝置中之一目標電壓之至少一比較所產生之該回饋訊號。
[5] 如申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中接收自該待測裝置至該電壓調節器的該回饋訊號，以根據來自該待測裝置的該回饋訊號調整該電力供應之步驟更包含：藉由該電壓調節器，根據該回饋訊號與該回饋訊號之一目標之比較，調整該電力供應。
[6] 如申請專利範圍第1項所述之測試方法，進一步包含：根據供應至該待測裝置之該電力供應的一電壓準位，決定該待測裝置是否符合該特定效能要求。
[7] 如申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中當該電壓調節器根據自該待測裝置接收的該回饋訊號調整供應至該待測裝置之該電力供應時，決定該待測裝置是否符合該特定效能要求之步驟更包含：傳送測試訊號至該待測裝置；接收來自該待測裝置之回應訊號；以及根據所述回應訊號決定該待測裝置是否符合該特定效能要求。
[8] 一種測試系統，包含：一電壓調節器，係根據一輸入訊號輸出一電力供應；一轉接板，用於測試一待測裝置，該轉接板包含：一第一耦接器，係自該電壓調節器供應該電力供應至該待測裝置，該待測裝置包含一適性電壓調整模組，可相應該電力供應產生一回饋訊號；以及一第二耦接器，係將來自該待測裝置的該回饋訊號提供至該電壓調節器做為該輸入訊號，以根據該回饋訊號調整供應至該待測裝置之該電力供應；以及一測試器，當該電壓調節器根據該回饋訊號調整該電力供應時，該測試器執行該待測裝置之一功能測試。
[9] 如申請專利範圍第8項所述之測試系統，其中該回饋訊號係根據該待測裝置中之至少一電壓所產生。
[10] 如申請專利範圍第8項所述之測試系統，其中該回饋訊號係根據該待測裝置之至少一效能參數所產生。
[11] 如申請專利範圍第8項所述之測試系統，其中該回饋訊號係根據該待測裝置中之一電壓與儲存於該待測裝置之一目標電壓之至少一比較所產生。
[12] 如申請專利範圍第8項所述之測試系統，其中該電壓調節器係根據該回饋訊號與該回饋訊號之一目標之一比較調整該電力供應。
[13] 如申請專利範圍第8項所述之測試系統，其中該測試器係根據供應至該待測裝置之該電力供應之一電壓準位決定該待測裝置是否符合該特定效能要求。
[14] 如申請專利範圍第8項所述之測試系統，其中該測試器傳送測試訊號至該待測裝置，接收來自該待測裝置之回應訊號，以及根據所述回應訊號決定該待測裝置是否符合該特定效能要求。
[15] 一種藉由一流程進行測試的電路，該流程包含：自一電壓調節器供應一電力供應至該電路，該電路包含一適性電壓調整模組，可相應該電力供應產生一回饋訊號；將來自該電路的回饋訊號提供至該電壓調節器，以根據該回饋訊號調整該電力供應；以及當該電壓調節器根據該電路之該回饋訊號調整該電力供應時，決定該電路是否符合一特定效能要求。
[16] 如申請專利範圍第15項所述之電路，其中該電路根據該電路中之至少一電壓產生該回饋訊號。
[17] 如申請專利範圍第15項所述之電路，其中該電路根據該電路之至少一效能參數產生該回饋訊號。
[18] 如申請專利範圍第15項所述之電路，其中該電路根據該電路中之一電壓與儲存於該電路中之一目標電壓之至少一比較產生該回饋訊號。
[19] 如申請專利範圍第15項所述之電路，該流程進一步包含：根據供應至該電路之該電力供應的一電壓準位，決定該電路是否符合該特定效能要求。
[20] 如申請專利範圍第15項所述之電路，該流程進一步包含：傳送測試訊號至該電路；接收來自該電路之回應訊號；以及根據所述回應訊號，決定該電路是否符合該特定效能要求。

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